[发明专利]一种用于玻璃颗粒的测量装置

说明书

本发明提供了一种用于玻璃颗粒的测量装置，包括滑动导轨、连接装置、测量装置、滚轮装置、光学平板、外形支架；外形支架固定在水平平台上，滚轮装置设置于外形支架上，光学平板设置于滚轮装置上且沿滚轮装置移动，直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板上，滑动导轨设置于外形支架上且位于光学平板上方，连接装置设置于滑动导轨上且沿滑动导轨移动，测量装置设置于连接装置上用于测量玻璃颗粒的直径。本发明解决了人工测量效率低、出错率高的问题。

技术领域

本发明涉及一种光纤测量技术，特别是一种用于玻璃颗粒的测量装置。

背景技术

玻璃颗粒制品被广泛用来生产中碱、无碱玻璃纤维及其制品，如中、无碱玻璃纤维无捻粗纱、短切原丝、连续毡、针织复合毡和短切毡、乳剂型和粉剂型短切毡、方格布等增强型玻纤产品，以及电子级玻纤纱和玻纤布。

玻璃颗粒的好坏直接影响到纤维产品的质量，通过分析其合格率可以相应的判别出玻璃颗粒产品的质量，而玻璃颗粒的直径分布情况是其合格率的直观表现。对玻璃颗粒的直径测量主要还是依靠人工，但玻璃颗粒由于其本身微小的特性，导致人工测量效率低下、准确率低，然而国内还未曾发现具有测量玻璃颗粒直径的装置。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于玻璃颗粒的测量装置，解决了人工测量效率低、出错率高的问题。

实现本发明目的的技术方案为：一种用于玻璃颗粒的测量装置，包括滑动导轨、连接装置、测量装置、滚轮装置、光学平板、外形支架；外形支架固定在水平平台上，滚轮装置设置于外形支架上，光学平板设置于滚轮装置上且沿滚轮装置移动，直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板上，滑动导轨设置于外形支架上且位于光学平板上方，连接装置设置于滑动导轨上且沿滑动导轨移动，测量装置设置于连接装置上用于测量玻璃颗粒的直径。

本发明与现有技术相比，其显著优点在于：(1)自动化程度高，大量提高了工作效率；(2)适应力强，可以同时测量大量直径分布不均的玻璃颗粒，通过图像处理来判断一板玻璃颗粒的合格率；(3)国内还没有针对玻璃颗粒的测量与分析装置。

下面结合说明书附图对本发明作进一步描述。

附图说明

图1为本发明用于玻璃颗粒的测量装置的整体结构示意图。

图2为本发明用于玻璃颗粒的测量装置的滑动导轨的结构示意图。

图3为本发明用于玻璃颗粒的测量装置的连接装置的结构示意图。

图4为本发明用于玻璃颗粒的测量装置的滚轮装置的结构示意图。

具体实施方式

结合图1，一种用于玻璃颗粒的测量装置，包括导轨装置1、连接装置2、测量装置3、滚轮装置4、光学平板5、外形支架6。外形支架6固定在水平平台上，滚轮装置4设置于外形支架6上，光学平板5设置于滚轮装置4上且沿滚轮装置4移动，直径分布不均的玻璃颗粒放置于光学平板5上，滑动导轨1设置于外形支架6上且位于光学平板5上方，连接装置2设置于滑动导轨1上且沿滑动导轨1移动，测量装置3设置于连接装置2上用于测量玻璃颗粒的直径。

外形支架6构成了测量装置的整体框架，支架的摆放应当水平。四个滚轮装置4对称固定在外形支架6的中部。导轨装置1通过电机控制来实现对测量装置的移动；测量装置3用于获取当前光学平板上玻璃颗粒的图像，进而传送回上位机进行图像处理；光学平板5用于放置一批玻璃颗粒，玻璃颗粒的摆放事先应当均匀分布在光学平板上，以免重叠放置导致计算误差。上位机处理完之后，依据玻璃直径的分布情况给定合格率，并将产品进行分类，操作人员依据分类情况对玻璃颗粒进行收集，从而实现对一批玻璃颗粒的测量。