[发明专利]一种矿物工艺粒度的测量方法

说明书

本发明公开了一种矿物工艺粒度的测量方法，包括：获取矿物颗粒图像，并采用图像处理软件对所述矿物颗粒图像进行处理，从而确定出所述矿物颗粒图像中矿物颗粒的二维形状、矿物颗粒的面积和矿物颗粒的最大弦长；其中，所述矿物颗粒的最大弦长是指矿物颗粒的二维形状上任意两个转择点连线中的最大线段长；以所述矿物颗粒的面积作为等效椭圆的面积，以所述矿物颗粒的最大弦长作为等效椭圆的长径，利用椭圆面积公式计算出等效椭圆的短径，即为矿物工艺粒度。本发明不仅能够快速测量出矿石光片中所有目的矿物颗粒的粒度，而且测量准确性高、可重复性好，能够更加全面准确地反映矿物颗粒的粒度特征。

技术领域

本发明涉及矿物工艺粒度测量技术领域，尤其涉及一种矿物工艺粒度的测量方法。

背景技术

在矿物加工领域，矿物的嵌布粒度是一项重要的研究内容，矿石中有用矿物的粒度是决定磨矿细度最主要的因素，同时也会影响到选矿方法及其工艺流程的选择。矿物工艺粒度是指矿物颗粒所占有的空间尺寸；在实际研究过程中，由于矿物颗粒的形状常常呈不规则状，加之受当前经济、技术条件的限制，直接获取矿物颗粒的三维空间分布状态还难以实现，因此一直无法对矿物颗粒的三维粒度直接进行测量表征。

目前，矿物工艺粒度的直接测量方法大多是采用光学显微镜、扫描电子显微镜等测量仪器在矿石的抛光面上进行二维空间的矿物工艺粒度测定，例如：常用的面测法、线测法、点测法等矿物工艺粒度测量方法。其中，线测法是应用最为普遍的矿物工艺粒度测量方法，其原理是在矿石光片(或薄片)表面对某一待测矿物颗粒沿一定方向直线随机截取长度，其具体操作如下：如图1所示，将矿石光片放在测量仪器上，并使矿石光片的抛光面朝向测量仪器的目镜，然后将目镜测微尺的放置方向调整至与显微镜机械台的移动方向一致，观测时逐个视域来观察颗粒的大小，再根据矿物颗粒在目镜测微尺上的随机截距确定矿物工艺粒度的大小；但是在采用这种线测法进行测量时，截线通过矿物颗粒表面的不同位置会使所测得的矿物工艺粒度值存在明显差异，因此这种线测法所测得的矿物工艺粒度存在很大的随意性。与线测法类似地，由于矿物颗粒的形状各异，传统的这些矿物工艺粒度测量方法都具有很大的随意性，尤其是对于形状不规则的矿物颗粒。此外，在这些矿物工艺粒度测量方法中，由于测线之间存在一定的距离，难免会有一些矿物颗粒无法被测线截取而遗漏，因此对于同一个矿石光片，随着测线布置的改变，所测得的矿物工艺粒度分布特征也会存在明显差异，测试数据重复性较差，代表性不足，即所测得的矿物工艺粒度值无法全面准确地反映矿物颗粒的粒度特征。

随着矿物自动测试技术和图像技术的发展，矿物工艺粒度的测量和表征方法越来越多，但现有这些测量和表征方法都无法客观真实地反映矿物颗粒的粒度特征，这对选矿方法和磨矿工艺的选择存在很大的不良影响。

发明内容

针对现有技术中的上述不足之处，本发明提供了一种矿物工艺粒度的测量方法，不仅能够快速测量出矿石光片中所有目的矿物颗粒的粒度，而且测量准确性高、可重复性好，能够更加全面、客观、准确地反映矿物颗粒的粒度特征，从而显著提高了对磨矿工艺和选矿方法指导的有效性。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

一种矿物工艺粒度的测量方法，包括如下步骤：

步骤A、获取矿物颗粒图像，并采用图像处理软件对所述矿物颗粒图像进行处理，从而确定出所述矿物颗粒图像中矿物颗粒的二维形状、矿物颗粒的面积和矿物颗粒的最大弦长；其中，所述矿物颗粒的最大弦长是指矿物颗粒的二维形状上任意两个转择点连线中的最大线段长；

步骤B、以所述矿物颗粒的面积作为等效椭圆的面积，以所述矿物颗粒的最大弦长作为等效椭圆的长径，采用以下公式计算出等效椭圆的短径，即为矿物工艺粒度：

b＝4S/(π*a)

其中，b等效椭圆的短径，S表示等效椭圆的面积，a表示等效椭圆的长径。