[发明专利]一种测试RFID灵敏度的装置及方法

权利要求书

1.一种测试RFID灵敏度的装置，其特征在于，包括电脑(1)、待测试超高频阅读器(2)和测试工装(3)；所述电脑(1)、待测试超高频阅读器(2)和测试工装(3)通过以太网接口或RS232接口(4)通信连接；

所述电脑(1)用于启动灵敏度测试，并统计出特定误码率下的灵敏度；

所述待测试超高频阅读器(2)和测试工装(3)之间通过射频线(5)连接，待测试超高频阅读器(2)按照超高频协议发送清点命令和载波，测试工装(3)上绑定的超高频芯片根据解码的命令回复随机数或者EPC编码信息或TID信息。

所述测试工装(3)可以动态设定工装板发射的灵敏度阈值，根据研发或者生产线要求灵活配置，测试工装(3)由开关矩阵、第一级环形器、耦合器、第二级环形器、超高频标签芯片、数控衰减器和功率检测单元组成。

2.如权利要求1所述的一种测试RFID灵敏度的装置，其特征在于：所述待测试超高频阅读器(2)发送载波和前向信号，用于唤醒标签并发送前向命令，同时待测试超高频阅读器(2)根据协议要求，打开反向接收开关，监听标签返回的信号，前向按照协议发送清点命令。

3.如权利要求1所述的一种测试RFID灵敏度的装置，其特征在于：所述待测试超高频阅读器(2)和测试工装(3)之间通过射频线(5)连接，若待测试超高频阅读器(2)有多个天馈口，测试工装(3)通过开关矩阵支持多个天馈口灵敏度测试。

4.如权利要求1所述的一种测试RFID灵敏度的装置，其特征在于：所述测试工装(3)接收阅读器前向命令，解析命令后返回清点数据。

5.如权利要求4所述的一种测试RFID灵敏度的装置，其特征在于：所述测试工装(3)接收阅读器前向命令，前向命令依次经过环形器、耦合器、PI衰减环节，前向能量经过衰减到达超高频芯片，超高频芯片成功解析前向命令后，根据协议返回随机数或标签信息区数据。

6.如权利要求5所述的一种测试RFID灵敏度的装置，其特征在于：所述标签对待测试超高频阅读器(2)发射的载波进行调制，调制信号经过匹配，可控衰减器件经环形器灌入待测试超高频阅读器(2)的天馈口。

7.如权利要求6所述的一种测试RFID灵敏度的装置，其特征在于：所述待测试超高频阅读器(2)天馈口的能量大小可配置，电脑(1)通过以太网接口或RS232接口(4)配置测试工装(3)返回信号能量大小，实现动态调整待测试超高频阅读器(2)的灵敏度。

8.如权利要求7所述的一种测试RFID灵敏度的装置，其特征在于：所述测试工装(3)返给待测试超高频阅读器(2)的能量大小可校准，校准方式通过软件配置可以选择FM0编码或MILLER编码。

9.一种如权利要求1所述的测试RFID灵敏度的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：待测试超高频阅读器(2)按照超高频协议，在发送窗口先发送单载波，用于激活测试工装(3)上的超高频无源芯片；

S2：待测试超高频阅读器(2)发送前向清点命令，标签解析到前向命令后，反向散射调制载波，输出反向数据；

S3：在待测试超高频阅读器(2)的接收窗口接收测试工装(3)返回的信息，如果待测试超高频阅读器(2)能成功解调解码标签返回的EPC码或TID，则认为本次灵敏度测试通过，否则认为本次测试失败。