[发明专利]目标检测的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201810837972.4 申请日: 2018-07-26
公开(公告)号: CN109902702B 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 邸新汉;李扬彦;王靓伟 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62;G06N3/04
代理公司: 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 代理人: 孙涛;毛威
地址: 518129 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 目标 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种目标检测的方法,其特征在于,包括:

获取目标的二维输入数据和三维输入数据,所述二维输入数据包括二维输入特征,所述二维输入特征为二维图像的输入矩阵,所述三维输入数据包括三维点云和三维输入特征,所述三维输入特征为所述三维点云的输入矩阵;

对所述二维输入特征和所述三维输入特征进行融合处理,得到第一融合特征;

对所述第一融合特征进行近邻算法处理,得到特征集合;

对所述三维点云进行近邻算法处理,得到点集合;

对所述特征集合和所述点集合进行融合处理,得到第二融合特征;

根据所述第二融合特征确定所述目标的三维位置信息;

所述对所述特征集合和所述点集合进行融合处理,得到第二融合特征,包括:

将所述点集合转换至所述特征集合的空间,得到点集合特征空间张量;

对所述点集合特征空间张量和所述特征集合进行乘法处理,得到所述第二融合特征;

所述对所述二维输入特征和所述三维输入特征进行融合处理,得到第一融合特征,包括:

将所述三维输入特征转换为第一特征,所述第一特征为与所述二维输入特征具有相同维度的输入矩阵;

根据所述二维输入特征和所述第一特征加权生成所述第一融合特征。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述三维输入特征转换为二维的第一特征,包括:

将所述三维输入特征进行降维处理和卷积处理,得到所述第一特征。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述将所述三维输入特征进行降维处理和卷积处理,包括:

根据以下等式将所述三维输入特征f3d降维至二维空间,

其中,t表示转移函数,所述转移函数的形式是根据n1个卷积核k1,k2,…kn1确定的,表示所述三维输入特征迁移至二维空间的特征张量;

对所述进行卷积处理。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述对所述进行卷积处理,包括:

根据以下等式进行卷积处理,得到所述第一特征

其中,t表示转移函数,所述转移函数的形式是根据n2个卷积核k1,k2,…kn2确定的,表示所述三维输入特征迁移至二维空间的特征张量。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述对所述第一融合特征进行近邻算法处理,得到特征集合,包括:

根据近邻算法确定所述第一融合特征的K个近邻特征的集合,所述K为正整数;

确定所述K个近邻特征的集合的中心特征;

根据所述中心特征对所述K个近邻特征的集合进行减法处理,得到所述特征集合。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述对所述三维点云进行近邻算法处理,得到点集合,包括:

根据近邻算法确定所述三维点云的M个近邻点的集合,其中,所述M为正整数;

确定所述M个近邻点的集合的中心点;

根据所述中心点对所述M个近邻点的集合进行减法处理,得到所述点集合。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述点集合转换至所述特征集合的空间,得到点集合特征空间张量,包括:

根据以下等式得到所述点集合特征空间张量

其中,表示所述点集合,t表示转移函数,所述转移函数的形式是根据n3个卷积核k1,k2,…kn3确定的,表示点集合特征空间张量。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司,未经华为技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810837972.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top