[发明专利]一种氮化镓基发光二极管外延片及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201810831578.X 申请日: 2018-07-26
公开(公告)号: CN109216514A 公开(公告)日: 2019-01-15
发明(设计)人: 葛永晖;郭炳磊;王群;吕蒙普;胡加辉;李鹏 申请(专利权)人: 华灿光电(浙江)有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/14;H01L33/20;H01L33/26;H01L33/30
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 徐立
地址: 322000 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 三维成核层 氮化镓层 外延片 氮化 铝层 源层 氮化镓基发光二极管 本征氮化镓层 叠层结构 缓冲层 恢复层 衬底 二维 半导体技术领域 空穴 内量子效率 复合发光 晶格失配 依次层叠 有效缓解 蓝宝石 氮化镓 制作 配合 优化
【权利要求书】:

1.一种氮化镓基发光二极管外延片,所述氮化镓基发光二极管外延片包括衬底、缓冲层、三维成核层、二维恢复层、本征氮化镓层、N型半导体层、有源层和P型半导体层,所述缓冲层、所述三维成核层、所述二维恢复层、所述本征氮化镓层、所述N型半导体层、所述有源层和所述P型半导体层依次层叠在所述衬底上,其特征在于,所述三维成核层包括至少一个叠层结构,所述叠层结构包括氮化镓层和设置在所述氮化镓层上的氮化钪铝层。

2.根据权利要求1所述的氮化镓基发光二极管外延片,其特征在于,所述氮化钪铝层为ScbAl1-bN层,0.15<b<0.65。

3.根据权利要求1或2所述的氮化镓基发光二极管外延片,其特征在于,所述叠层结构的厚度为50nm~500nm。

4.根据权利要求3所述的氮化镓基发光二极管外延片,其特征在于,所述氮化镓层的厚度为所述氮化钪铝层的厚度为2倍~15倍。

5.根据权利要求1或2所述的氮化镓基发光二极管外延片,其特征在于,所述叠层结构的数量为M个,1≤M≤5且M为整数。

6.根据权利要求5所述的氮化镓基发光二极管外延片,其特征在于,所述缓冲层的厚度为250nm~500nm。

7.一种氮化镓基发光二极管外延片的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括:

提供一衬底;

在所述衬底上依次生长缓冲层、三维成核层、二维恢复层、本征氮化镓层、N型半导体层、有源层和P型半导体层;

其中,所述三维成核层包括至少一个叠层结构,所述叠层结构包括氮化镓层和设置在所述氮化镓层上的氮化钪铝层。

8.根据权利要求7所述的制作方法,其特征在于,所述氮化钪铝层的生长条件与所述氮化镓层的生长条件相同,所述生长条件包括生长温度和生长压力。

9.根据权利要求8所述的制作方法,其特征在于,所述三维成核层的生长温度为1000℃~1040℃。

10.根据权利要求9所述的制作方法,其特征在于,所述三维成核层的生长压力为400torr~600torr。

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