[发明专利]一种测量方法和装置

说明书

本申请实施例公开了一种测量方法和装置，涉及通信技术领域，解决了现有技术中波束成形增益会对测量值的误差造成干扰，导致确定的测量值的误差并不准确的问题。具体方案为：测量设备检测测量毫米波信号的参考信号接收功率RSRP测量值；计算测量毫米波信号的信号到达角度AoA；根据AoA查找预配置的数据库，获取该AoA对应的波束成形增益基准值；其中，数据库包含至少一个AoA，以及与该至少一个AoA中每个AoA对应的波束成形增益基准值；根据RSRP测量值和AoA对应的波束成形增益基准值获取测量毫米波信号的RSRP校准值。

技术领域

本申请实施例涉及通信技术领域，尤其涉及一种测量方法和装置。

背景技术

在5G发展过程中，对于毫米波(频率6GHz)的应用要求已经确定，毫米波和波束成形技术的结合也使得5G通讯系统拥有高带宽并且支持大量用户同时通讯。目前对于毫米波的接收和测量技术受到了毫米波特性以及5G芯片集成化的影响，只能在空口技术(OverThe Air，OTA)环境下进行，在TS38.810中定义了对于毫米波的测量方案，由于受限于对芯片的构造的了解程度不高，毫米波的特性，以及当前的基带测量参考点方案，目前对于基带侧毫米波的RSRP测量值精度的测试需要解决两个问题：一是测试仪器或环境需要知晓对测试机的波束成形增益；二是测试仪器或环境需要排除波束成形增益对误差值的影响。

现有技术中的一种测试方案是在非直接远场测试的情况下，通过在测试机(Device Under Test，DUT)测试时的同一位置放置一个已知增益的参考天线进行对比测试，根据DUT基带上报的参考信号接收功率(Reference Signal Receiving Power，RSRP)与已知增益的参考天线测量的RSRP确定DUT基带测量值的误差。由于该测试方案中带有波束成形增益，因此DUT基带上报的RSRP中同时包含波束成形增益和误差值，而且测试方案中已知增益的参考天线测量的RSRP中也包含波束成形增益，因此，上述波束成形增益会对RSRP测量值的误差造成干扰，导致确定的RSRP测量值的误差并不准确。

发明内容

本申请实施例提供一种测量方法和装置，能够排除波束成形增益对测试结果造成的干扰，获取更加精确的RSRP测量值的误差。

为达到上述目的，本申请实施例采用如下技术方案：

本申请实施例的第一方面，提供一种测量方法，该方法包括：测量设备检测测量毫米波信号的参考信号接收功率RSRP测量值；计算该测量毫米波信号的信号到达角度AoA；根据该AoA查找预配置的数据库，获取该AoA对应的波束成形增益基准值；其中，上述数据库包含至少一个AoA，以及与该至少一个AoA中每个AoA对应的波束成形增益基准值；根据RSRP测量值和AoA对应的波束成形增益基准值计算测量毫米波信号的RSRP校准值。上述测量设备为基带芯片或终端设备。基于本方案，通过将基带测量的带有波束成形增益的RSRP测量值减去测量毫米波波束信号的信号到达角度对应的波束成形增益的基准值，能够获得不包含波束成形增益的RSRP校准值，从而排除基带波束成形增益对测试方案的影响。

结合第一方面，在第一种可能的实现方式中，一个AoA对应的波束成形增益基准值根据在该AoA检测的至少两个RSRP测量值与RSRP真实值获得；其中，RSRP真实值是由0dBi全向天线连接的仪器测量的，上述测量设备射频天线的中心和该0dBi全向天线的球体中心对齐。基于本方案，能够根据RSRP测量值和RSRP真实值得到波束成形增益的基准值。

结合第一方面和上述可能的实现方式，在另一种可能的实现方式中，上述至少两个RSRP测量值是由与上述测量设备型号相同的至少两个测量设备测量的。基于本方案，通过采用多个基带芯片进行多次测量的目的是为了排除单一基带芯片的影响，以获取较为准确的波束成形增益基准值。

结合第一方面和上述可能的实现方式，在另一种可能的实现方式中，上述方法还包括：根据上述RSRP校准值和上述RSRP真实值计算测量设备检测的RSRP测量值的误差。基于本方案，能够获得较为准确的RSRP测量值误差。