[发明专利]基于超声成像的HIFU探头调节架及调节方法在审
| 申请号: | 201810828602.4 | 申请日: | 2018-07-25 |
| 公开(公告)号: | CN109125961A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
| 发明(设计)人: | 简小华;徐杰;刘鹏波;吕加兵;崔崤峣 | 申请(专利权)人: | 苏州国科昂卓医疗科技有限公司 |
| 主分类号: | A61N7/02 | 分类号: | A61N7/02;A61B8/08 |
| 代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 成珊 |
| 地址: | 215163 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 摆臂 成像探头 固定器 横梁臂 探头 探头调节架 超声成像 位置参数 控制器 成像 目标区域位置 超声技术 动态聚焦 调节架 频谱 探测 覆盖 | ||
1.一种基于超声成像的HIFU探头调节架,其特征在于,包括:
横梁臂;
第一固定器,与所述横梁臂通过第一摆臂连接,用于固定高频成像探头;
第二固定器,与所述横梁臂通过第二摆臂连接,用于固定低频HIFU探头;
控制器,分别与所述第一摆臂和所述第二摆臂连接,用于根据所述高频成像探头的位置参数来调整所述第二摆臂和/或所述低频HIFU探头的位置;
其中,所述位置参数包括:所述第一摆臂与所述横梁臂之间的角度;和/或,所述高频成像探头与所述第一摆臂之间的角度;和/或,所述高频成像探头探测到的目标区域位置。
2.根据权利要求1所述的HIFU探头调节架,其特征在于,还包括:
第一角度计,设置在所述第一摆臂和所述横梁臂的连接处,用于计量所述第一摆臂和所述横梁臂之间的第一角度;
第二角度计,设置在所述第二摆臂和所述横梁臂的连接处,用于计量所述第二摆臂和所述横梁臂之间的第二角度。
3.根据权利要求1所述的HIFU探头调节架,其特征在于,所述装置还包括:
显示器,与所述高频成像探头连接,用于显示所述高频成像探头探测到的画面;
其中,所述控制器还用于根据所述画面调整所述第一摆臂和/或所述高频成像探头的位置。
4.根据权利要求2所述的HIFU探头调节架,其特征在于,所述角度计还包括:
基座;
开设在所述基座侧壁上的至少一个固定孔和/或槽,用于将所述角度计的0度位置与所述横梁臂固定连接;
旋转器,设置在所述基座上,并能够沿所述基座的轴线自由转动;
限位组件,设置在所述基座上,并用于固定所述旋转器的旋转位置;
所述旋转器与靠近其的所述摆臂固定连接。
5.根据权利要求1所述的HIFU探头调节架,其特征在于,所述固定器与所述摆臂为可动连接。
6.一种基于超声成像的HIFU探头调节架的调节方法,其特征在于,包括:
用高频成像探头获取目标区域的位置信息;
获取第一角度计的角度值;
根据所述位置信息和/或所述角度值,计算调整所述第二角度计的角度值和/或所述低频HIFU探头的焦距。
7.根据权利要求6所述的基于超声成像的HIFU探头调节架的调节方法,其特征在于,所述根据所述位置信息和/或所述角度值,计算所述第二角度计的角度值和/或所述低频HIFU探头的焦距的步骤,包括:
若所述高频成像探头的位置是(x1,y1),则所述低频HIFU探头调整后的位置(x2,y2)为
其中,θ1为所述第一角度计的角度值,l0为所述横梁臂的长度,l1为所述第一摆臂的长度,l2为所述第二摆臂的长度,T1为所述高频成像探头露出所述第一固定器的长度,T2为所述低频HIFU探头露出所述第二固定器的长度,H1为所述高频成像探头的高度,H2为所述低频HIFU探头的高度;θ2为所述第二角度计的角度值。
8.根据权利要求7所述的基于超声成像的HIFU探头调节架的调节方法,其特征在于,所述根据所述位置信息和/或所述角度信息,计算所述第二角度计的角度值和/或所述低频HIFU探头的焦距的步骤,还包括:
根据所述高频成像探头探测到的目标区域位置(x3,y3),确定所述低频HIFU探头的焦距f:
其中,(x20,y20)为所述低频HIFU探头的声波发射位置。
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