[发明专利]集成电路元器件特性数据预测方法及装置

说明书

本发明公开了一种集成电路元器件特性数据预测方法及装置，其中，方法包括以下步骤：对待测器件的特性曲线进行分段，以得到分段后的特性曲线；在分段后的特性曲线中每段曲线上生成相同数量的数据点，并对每段曲线通过样条插值预测得到预测曲线；在预测曲线不满足预设条件时，对预测曲线通过样条插值得到所需数据点。该方法通过曲线线型进行分段插值，效解决插值点直接无法匹配的问题，能有效减少每个器件的测试点数，从而有效降低整体的测试代价，有效提高预测的实用性，成本低、效率高，简单易实现。

技术领域

本发明涉及电路数据预测技术领域，特别涉及一种集成电路元器件特性数据预测方法及装置。

背景技术

目前，在先进工艺节点下，考虑工艺浮动的元器件统计测试是非常重要的任务，在这项任务中，需要测试大量的元器件，往往需要耗费大量的时间与成本，效率低、成本高，实用性差。

发明内容

本申请是基于发明人对以下问题的认识和发现作出的：

如图1所示，解决电路中数据预测的问题，可以采用传统的插值方法，比如样条插值，但是插值对应的点之间不是完全匹配的，造成插值效果并不理想，误差较大。

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出一种集成电路元器件特性数据预测方法，该方法可以有效降低整体的测试代价，有效提高预测的实用性，成本低、效率高，简单易实现。

本发明的另一个目的在于提出一种集成电路元器件特性数据预测装置。

为达到上述目的，本发明一方面实施例提出了一种集成电路元器件特性数据预测方法，包括以下步骤：对待测器件的特性曲线进行分段，以得到分段后的特性曲线；在所述分段后的特性曲线中每段曲线上生成相同数量的数据点，并对所述每段曲线通过样条插值预测得到预测曲线；在所述预测曲线不满足预设条件时，对所述预测曲线通过样条插值得到所需数据点。

本发明实施例的集成电路元器件特性数据预测方法，通过曲线线型进行分段插值，效解决插值点直接无法匹配的问题，能有效减少每个器件的测试点数，从而有效降低整体的测试代价，有效提高预测的实用性，成本低、效率高，简单易实现。

另外，根据本发明上述实施例的集成电路元器件特性数据预测方法还可以具有以下附加的技术特征：

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述对待测器件的特性曲线进行分段，进一步包括：根据所述待测器件的线型对所述待测器件的特性曲线进行分段。

进一步地，在本发明的一个实施例中，其中，以曲线曲率最大点作为分界点对所述待测器件的特性曲线进行分段。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述在所述分段后的特性曲线中每段曲线上生成相同数量的数据点，进一步包括：对所述分段后的特性曲线中每段曲线进行自身样条插值。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述预设条件为所述预测曲线的曲线点数和点的位置符合目标点数和目标位置。

为达到上述目的，本发明另一方面实施例提出了一种集成电路元器件特性数据预测装置，包括：分段模块，用于对待测器件的特性曲线进行分段，以得到分段后的特性曲线；预测模块，用于在所述分段后的特性曲线中每段曲线上生成相同数量的数据点，并对所述每段曲线通过样条插值预测得到预测曲线；处理模块，用于在所述预测曲线不满足预设条件时，对所述预测曲线通过样条插值得到所需数据点。

本发明实施例的集成电路元器件特性数据预测装置，通过曲线线型进行分段插值，效解决插值点直接无法匹配的问题，能有效减少每个器件的测试点数，从而有效降低整体的测试代价，有效提高预测的实用性，成本低、效率高，简单易实现。

另外，根据本发明上述实施例的集成电路元器件特性数据预测装置还可以具有以下附加的技术特征：