[发明专利]显示面板的残像等级检测方法和残像等级检测装置

说明书

本发明提供一种显示面板的残像等级检测方法及检测装置，残像等级检测方法包括：控制待检测的显示面板显示棋盘格画面；在所述棋盘格画面显示预定时长后，将所述棋盘格画面切换为预定灰阶的检测画面；对显示面板进行图像采集，以获取检测画面的图像，检测画面的图像包括多个待分析子图像，该多个待分析子图像分别为所述检测画面位于各个纯色子画面所在区域的部分的图像；每个待分析子图像包括中间区和多个边缘区，所述中间区与相邻的每个待分析子图像之间均存在一个所述边缘区；计算每相邻两个中间区之间的两个边缘区的亮度变化因子；根据得到的所有亮度变化因子判断所述显示面板的残像等级。本发明能够准确客观地评判显示器的画面品质。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板的残像等级检测方法和残像等级检测装置。

背景技术

在液晶显示器的产品研发和量产阶段不可避免的会产生一定的不良样品。为了保证产品的生产质量，控制成本，液晶显示器的显示缺陷检测成为液晶显示行业不可或缺的重要部分。在各类显示缺陷中，亮点缺陷，暗点缺陷，亮线缺陷，暗线缺陷等不良由于具有对比度高，形状规则，边缘清晰等特点，人工视觉检查法可以很容易检出；而残像具有形状不规则，边缘模糊等特点，很难被准确检出。

目前行业内残像检查方法主要采用人工视觉检查法，即通过肉眼观测点亮的显示器，并与残像等级样本进行目视对比，进而判读产品有无缺陷并判定相应等级。由于人与人之间的视觉感受差异，眼睛疲劳等因素使得不同人员判定的残像水平存在差异，因此目前这种人工视觉判定残像等级无法准确客观地评判显示器的画面品质。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种显示面板的残像等级检测方法和残像等级检测装置，以准确客观地评判显示器的画面品质。

为了实现上述目的，本发明提供一种显示面板的残像等级检测方法，包括：

控制待检测的显示面板显示棋盘格画面；所述棋盘格画面包括矩阵排列的多个纯色子画面，每相邻两个纯色子画面的灰阶分别为第一灰阶和第二灰阶；

在所述棋盘格画面显示预定时长后，将所述棋盘格画面切换为预定灰阶的检测画面，所述预定灰阶处于所述第一灰阶和所述第二灰阶之间；

对所述显示面板进行图像采集，以获取所述检测画面的图像，所述检测画面的图像包括多个待分析子图像，该多个待分析子图像分别为所述检测画面位于各个纯色子画面所在区域的部分的图像；每个待分析子图像包括中间区和多个边缘区，所述中间区与相邻的每个待分析子图像之间均存在一个所述边缘区；

计算每相邻两个中间区之间的两个边缘区的亮度变化因子；

根据得到的所有亮度变化因子判断所述显示面板的残像等级。

优选地，所述计算每相邻两个中间区之间的两个边缘区的亮度变化因子的步骤包括：

获取每个边缘区的参考亮度，所述边缘区的参考亮度为该边缘区中所有像素的亮度之和；

计算每相邻两个中间区之间的两个边缘区的参考亮度之比，并将该参考亮度之比作为所述亮度变化因子；

所述根据得到的所有亮度变化因子判断所述显示面板的残像等级的步骤包括：

计算每个亮度变化因子与1的差值的绝对值，并计算所有绝对值的平均值；

根据所述平均值判断所述显示面板的残像等级。

优选地，所述对所述显示面板进行图像采集，以获取所述检测画面的图像的步骤包括：

对所述显示面板进行图像采集，得到原始图像；

对所述原始图像进行倾斜矫正；

对所述倾斜矫正后的图像进行图像裁剪，以获得所述显示面板所显示的检测画面的图像。