[发明专利]一种高水压电磁阀的低水压密封性测试方法及系统

权利要求书

1.一种高水压电磁阀的低水压密封性测试方法，其特征在于，包括步骤：

将待测试的高水压电磁阀通过一第一水管连接于一水箱的直通阀门，并自该高水压电磁阀的出水口通过一第二水管连接一内径不大于1.5mm的针头或者细管；

往该水箱中注水，水面距离直通阀门的高度不低于70mm且不高于330mm；

打开高水压电磁阀并打开直通阀门，待水流排去直通阀门与针头或者细管之间的管路中的空气后关闭高水压电磁阀；

打开高水压电磁阀一第一预设时长后，关闭高水压电磁阀一第二预设时长，重复通断高水压电磁阀一预设次数；

再对高水压电磁阀通断一次并采集关闭状态下针头或者细管处滴出的水；

测量从针头或者细管处采集的水的水体积量以判断高水压电磁阀的低水压密封性能。

2.根据权利要求1所述的高水压电磁阀的低水压密封性测试方法，其特征在于，所述测量从针头或者细管处采集的水的水体积量以判断高水压电磁阀的低水压密封性能包括步骤：

判断水体积量是否超过一预设体积量；

若水体积量不超过该预设体积量，判定该高水压电磁阀的低水压密封性合格；

若水体积量超过该预设体积量，判定该高水压电磁阀的低水压密封性不合格。

3.根据权利要求2所述的高水压电磁阀的低水压密封性测试方法，其特征在于，所述水体积量采用水滴数量计量，所述预设体积量采用预设水滴数量计量。

4.根据权利要求3所述的高水压电磁阀的低水压密封性测试方法，其特征在于，所述预设水滴数量不超过30滴。

5.根据权利要求1所述的高水压电磁阀的低水压密封性测试方法，其特征在于，所述第一预设时长不超过60秒。

6.根据权利要求1所述的高水压电磁阀的低水压密封性测试方法，其特征在于，所述第二预设时长不超过60秒。

7.根据权利要求1所述的高水压电磁阀的低水压密封性测试方法，其特征在于，所述预设次数不小于1次且不大于10次。

8.一种高水压电磁阀的低水压密封性测试系统，其特征在于，包括有：

一水箱，用于盛装水；

一直通阀门，设于所述水箱的一侧面底端处，所述直通阀门距离所述水箱中的水面的高度不低于70mm且不高于330mm；

一内径不大于1.5mm的针头或者细管；

一第一水管，所述第一水管的一端连接所述直通阀门，另一端连接待测试的高水压电磁阀的入水口；

一第二水管，所述第二水管的一端连接该高水压电磁阀的出水口，另一端连接一所述针头或者细管。

9.根据权利要求8所述的高水压电磁阀的低水压密封性测试系统，其特征在于，所述水箱内设有一用于测量所述直通阀门距离所述水箱中的水面的高度值的刻度尺。

10.根据权利要求8所述的高水压电磁阀的低水压密封性测试系统，其特征在于，所述水箱采用透明材料制成。