[发明专利]一种新型侧照式混样装置有效

专利信息
申请号: 201810806856.6 申请日: 2018-07-18
公开(公告)号: CN108613932B 公开(公告)日: 2023-08-22
发明(设计)人: 兰树明 申请(专利权)人: 无锡迅杰光远科技有限公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01N21/25;G01N1/38
代理公司: 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 代理人: 聂启新
地址: 214135 江苏省无锡市新吴区菱*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 侧照式混样 装置
【说明书】:

发明涉及一种新型侧照式混样装置,包括样品转盘,所述样品转盘固定安装在前面板支架的前表面上,样品转盘外表面为圆柱状壳体,其内部形成封闭空腔,封闭空腔的上部为半圆形的混样池,下部设有装样抽屉安装槽,其内安装有半圆形的拆卸式装样抽屉,所述混样池后表面为玻璃窗口,与玻璃窗口相连接的样品转盘的后表面上设有参比板固定槽、标准物固定槽和归零传感器;还包括设置在前面板支架后表面上的漫反射采样装置,所述样品转盘通过旋转连接轴由旋转电机驱动旋转。本发明采用半圆装样、半圆混样、360°翻转的方法,装样简便,所用电机数量少、控制简单、可靠性好,排除样品不均匀度引入的测量误差,有效提高了测量精度。

技术领域

本发明涉及光谱测量设备混样装置技术领域,尤其是一种新型侧照式混样装置。

背景技术

现有技术中,光谱仪测量样品时通常采用上照式或下照式采集样品光谱,对于均匀性不好的样品,通常运用旋转采样方式进行采集平均处理,但是光照面通常为单面照射,样品排列不均匀导致样品测样过程中光谱出现随机波动影响分析结果,为降低样品的不均匀性,传统方法采用积分球对样品反射的光进行均匀化,但是受积分球尺寸影响很难将样品尺寸不均匀引入的误差降到最低;采用双面透光的旋转式光谱测量仪,能够使样品边旋转边测量,提高光谱重复性,但对于颗粒状的样品,存在漏光的现象,影响测量精度,样品装入与导出均需要自动装置进行控制,结构复杂可靠性差,且对于粉末状样品不便于清洁。

发明内容

本申请人针对上述现有生产技术中的缺点,提供一种结构合理的侧照式混样装置,使用方便,维护简单,提高光谱测量精度。

本发明所采用的技术方案如下:

一种新型侧照式混样装置,包括样品转盘,所述样品转盘固定安装在前面板支架的前表面上,样品转盘外表面为圆柱状壳体,其内部形成封闭空腔,封闭空腔的上部为半圆形的混样池,下部设有装样抽屉安装槽,其内安装有半圆形的拆卸式装样抽屉,所述混样池后表面为玻璃窗口,与玻璃窗口相连接的样品转盘的后表面上设有参比板固定槽、标准物固定槽;还包括设置在前面板支架后表面上的漫反射采样装置和归零传感器,所述样品转盘通过旋转连接轴由旋转电机驱动旋转。

所述归零传感器垂直于所述样品转盘的后表面,样品转盘上设有归零感应点,归零感应点与所述归零传感器相互作用。

所述漫反射采样装置垂直安装于前面板支架的后表面。

所述装样抽屉通过磁吸座固定在装样抽屉安装槽内,所述装样抽屉上边缘设有装样抽屉卡槽,装样抽屉卡槽卡入混样池前表面下边缘,并将装样抽屉与装样抽屉安装槽卡紧。

所述旋转电机通过D型固定槽和电机固定支架固定到前面板支架上,D型固定槽位于样品转盘的后表面,旋转电机的输出轴与样品转盘上安装的旋转连接轴连接,旋转电机使用步进电机或伺服电机。

所述样品转盘通过样品转盘固定孔固定安装在前面板支架上。

所述参比板固定槽内安装有标准反射率反射板,所述标准物固定槽放置稳定波长的标准物质。

所述样品转盘的旋转连接轴与水平方向呈小于45°的角度安装。

所述样品转盘的旋转连接轴沿水平方向安装。

所述混样池后表面玻璃窗口采用石英玻璃或蓝宝石玻璃。

本发明的有益效果如下:

本发明结构紧凑、合理,操作方便,通过采用半圆装样、半圆混样、360°翻转的方法,所用电机数量少、控制简单、可靠性好,能够对光谱仪进行标定,能够排除样品不均匀度引入的侧量误差,有效提高了测量精度精度。同时,本发明还具有如下优点:

1.本发明的样品转盘旋转360°,混样池内部的样品重新排列,重复样品扫描步骤,将多次采集后的光谱进入后端处理系统,完成样品排列信息干扰的去除,解决了样品不均匀导致的测量结果重复性和准确性不良的问题。

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