[发明专利]图形化衬底的方法在审
申请号: | 201810803885.7 | 申请日: | 2018-07-20 |
公开(公告)号: | CN108919614A | 公开(公告)日: | 2018-11-30 |
发明(设计)人: | 徐平;冯磊 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/30 | 分类号: | G03F7/30 |
代理公司: | 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11603 | 代理人: | 于淼 |
地址: | 423038 湖南省郴*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 衬底 衬底表面 光刻图形 图形化 显影液 负性 显影 有机冲洗剂 曝光处理 显影设备 一次显影 烘烤 喷淋 热板 冲洗 送入 表面形成 出光效率 光刻掩膜 光刻版 曝光机 分辨率 掩膜 | ||
1.一种图形化衬底的方法,其特征在于,包括:
在衬底的表面形成2.0~2.7μm厚的光刻掩膜;
通过曝光机和光刻版对光刻掩膜进行曝光处理;
将曝光处理后的衬底送入显影设备,对衬底表面喷淋负性显影液,然后使用有机冲洗剂冲洗衬底表面,旋干后送至热板烘烤,得到一次显影后的衬底;其中,所述负性显影液在衬底表面的保留时间T1=30~40s;所述有机冲洗剂的冲洗时间M1=20~30s;所述热板的烘烤温度D1=100~110℃,烘烤时间N1=40~60s;
将一次显影后的衬底继续送入显影设备,对衬底表面喷淋负性显影液,然后使用有机冲洗剂冲洗衬底表面,旋干后送至热板烘烤,得到二次显影后的衬底;其中,所述负性显影液在衬底表面的保留时间T2=1.2T1;所述有机冲洗剂的冲洗时间M2=0.9M1;所述热板的烘烤温度D2=1.1D1,烘烤时间N2=0.8N1。
2.根据权利要求1所述的图形化衬底的方法,其特征在于,
所述负性显影液包括乙醇、二甲苯和表面活性剂,其中,乙醇的质量占比为15~20%,二甲苯的质量占比为22~26%,表面活性剂的质量占比为3~6%。
3.根据权利要求2所述的图形化衬底的方法,其特征在于,
所述表面活性剂为聚乙二醇、十二烷基硫酸钠、十八烷基硫酸钠中的至少一者。
4.根据权利要求1所述的图形化衬底的方法,其特征在于,
所述有机冲洗剂为碳酸二甲酯、无水乙醇中的至少一者。
5.根据权利要求1所述的图形化衬底的方法,其特征在于,
所述在衬底的表面形成2.0~2.7μm厚的光刻掩膜的步骤,具体为:
将正性光刻胶均匀涂布在衬底的表面,然后将衬底送至热板烘烤,烘烤温度为90~110℃,烘烤时间为60~120s,再将衬底送至23℃冷却盘冷却,冷却时间为30~45s。
6.根据权利要求5所述的图形化衬底的方法,其特征在于,
所述正性光刻胶包括酚醛树脂、重氮奈醌磺酸酯和丙二醇甲醚醋酸酯。
7.根据权利要求1所述的图形化衬底的方法,其特征在于,
所述通过曝光机和光刻版对光刻掩膜进行曝光处理的步骤,具体为:
设置曝光机的曝光焦距为-0.3~0.3μm、曝光时间为150~300mms,对光刻掩膜进行曝光处理,将光刻版上的图形转移到光刻掩膜上,然后将衬底送至热板烘烤,烘烤温度为100~120℃,烘烤时间为60~120s,再将衬底送至23℃冷却盘冷却,冷却时间为30~45s。
8.根据权利要求1或7所述的图形化衬底的方法,其特征在于,
所述光刻版上的图形为多个尺寸相同的圆形,且所述圆形的直径为2.0~2.4μm。
9.根据权利要求1所述的图形化衬底的方法,其特征在于,
所述将曝光处理后的衬底送入显影设备,对衬底表面喷淋负性显影液,然后使用有机冲洗剂冲洗衬底表面,旋干后送至热板烘烤,得到一次显影后的衬底的步骤之后,还包括:
将衬底送至23℃冷却盘冷却,冷却时间K1=20~30s。
10.根据权利要求9所述的图形化衬底的方法,其特征在于,
所述将一次显影后的衬底继续送入显影设备,对衬底表面喷淋负性显影液,然后使用有机冲洗剂冲洗衬底表面,旋干后送至热板烘烤,得到二次显影后的衬底的步骤之后,还包括:
将衬底送至23℃冷却盘冷却,冷却时间K2=K1。
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