[发明专利]一种基于电极抽样校验的动态电阻抗成像方法

权利要求书

1.一种基于电极抽样校验的动态电阻抗成像方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一，对EIT测量电极进行顺序编号并将EIT测量电极分为三组，分别记为：全部电极、奇数编号电极和偶数编号电极；

步骤二，获取全部电极的边界测量电位U_all，奇数编号电极的边界测量电位U_odd和偶数编号电极的边界测量电位U_even；根据U_all、U_odd和U_even，选取两个时刻的边界电位数据进行差分，获得全部电极的边界电位变化ΔU_all、奇数编号电极的边界电位变化ΔU_odd和偶数编号电极的边界电位变化ΔU_even；

步骤三，根据步骤二获得的ΔU_all、ΔU_odd和ΔU_even，计算全部电极测量数据下的重建结果Δσ_all、奇数电极测量数据下的重建结果Δσ_odd和偶数电极测量数据下的重建结果Δσ_even，并绘制Δσ_all对应的EIT重建图像、Δσ_odd对应的EIT重建图像和Δσ_even对应的EIT重建图像；

步骤四，根据步骤三中得到的Δσ_all、Δσ_odd和Δσ_even，分别计算Δσ_all与Δσ_odd的相关系数R₁、Δσ_all与Δσ_even的相关系数R₂以及Δσ_odd和Δσ_even的相关系数R₃；

步骤五，根据R₁、R₂和R₃来判断Δσ_all、Δσ_odd和Δσ_even的可信性以及Δσ_all、Δσ_odd和Δσ_even分别对应的EIT重建图像的可信性。

2.根据权利要求1所述的一种基于电极抽样校验的动态电阻抗成像方法，其特征在于，步骤二中，获取全部电极的边界测量电位U_all，奇数编号电极的边界测量电位U_odd和偶数编号电极的边界测量电位U_even的过程为：获取的全部电极的边界测量电位为U_all，然后从U_all中提取奇数编号电极激励下，奇数编号电极上的边界测量电位作为U_odd；从U_all中提取偶数编号电极激励下，偶数编号电极上的边界测量电位作为U_even。

3.根据权利要求1所述的一种基于电极抽样校验的动态电阻抗成像方法，其特征在于，所述步骤三中，基于阻尼最小二乘算法计算Δσ_all、Δσ_odd和Δσ_even，其具体公式如下：

其中，λ为正则化参数，I为单位矩阵，J_all为所有电极下的敏感系数矩阵，J_odd奇数编号电极下的敏感系数矩阵，J_even为偶数编号电极下的敏感系数矩阵。

4.根据权利要求1所述的一种基于电极抽样校验的动态电阻抗成像方法，其特征在于，所述步骤四中，计算R₁、R₂和R₃的具体计算公式如下：

其中，和分别表示Δσ_all、Δσ_even和Δσ_odd的均值，m为Δσ_all、Δσ_even和Δσ_odd的维数。