[发明专利]基于高光谱数据的遥感器辐射定标方法及定标系统

权利要求书

1.一种基于高光谱数据的遥感器辐射定标方法，其特征在于，包括：

通过作为基准遥感器的高光谱遥感器实时采集高光谱遥感数据，通过作为待定标遥感器的通道式成像仪实时采集成像仪通道反射率，并将该高光谱遥感数据转换为成像仪通道模拟反射率；

以基准遥感器与待定标遥感器的运行轨道交叉点为中心，以待定标遥感器的星下点分辨率为间隔，建立投影区域；

将成像仪通道模拟反射率和成像仪通道反射率均投影至投影区域，对于高光谱遥感器的各像元提取有效交叉定标数据对，并根据该有效交叉定标数据对计算待定标遥感器的辐射定标系数，以校正待定标遥感器实时采集的成像仪通道反射率。

2.根据权利要求1所述的基于高光谱数据的遥感器辐射定标方法，其特征在于，将该高光谱遥感数据转换为成像仪通道模拟反射率，包括：

对高光谱遥感数据的量纲进行能量单位转换；

对相邻波段的高光谱遥感数据进行拼接处理，得到完整的高光谱遥感数据；

将完整的高光谱遥感数据转化成待定标遥感器的成像仪通道模拟反射率。

3.根据权利要求2所述的基于高光谱数据的遥感器辐射定标方法，其特征在于，对于高光谱遥感器的各像元提取有效交叉定标数据对，包括：

在高光谱遥感器的各像元中提取落入像元中的成像仪像元点组；

根据成像仪像元点组计算通道式成像仪总反射率；

对于各像元，成像仪通道模拟反射率和通道式成像仪总反射率组成各像元的有效交叉定标数据对。

4.根据权利要求3所述的基于高光谱数据的遥感器辐射定标方法，其特征在于，在高光谱遥感器的各像元中提取落入像元中的成像仪像元点组中，利用以下计算模型提取落入像元中的成像仪像元点组：

其中，为像元的第一个顶点，为像元的第二个顶点，为像元的第三个顶点，为像元的第四个顶点，为成像仪像元点，四个顶点为顺时针顺序。

5.根据权利要求3所述的基于高光谱数据的遥感器辐射定标方法，其特征在于，根据该有效交叉定标数据对计算待定标遥感器的辐射定标系数，包括：

利用最小二乘法对有效交叉定标数据对进行线性回归，计算出斜率，该斜率为待定标遥感器的辐射定标系数。

6.根据权利要求3所述的基于高光谱数据的遥感器辐射定标方法，其特征在于，在根据该有效交叉定标数据对计算待定标遥感器的辐射定标系数之前，还包括：根据均匀性因子对各像元的有效交叉定标数据对进行筛选，该均匀性因子为：

其中，F为均匀性因子，σ_ρi-Imager为成像仪像元点组的标准差，为成像仪像元点组的平均值。

7.一种实现权利要求1所述的基于高光谱数据的遥感器辐射定标方法的定标系统，其特征在于，包括高光谱遥感器、通道式成像仪、投影区域建立模块和辐射定标系数计算模块；

高光谱遥感器，作为基准遥感器实时采集高光谱遥感数据；

通道式成像仪，作为待定标遥感器实时采集成像仪通道反射率，并将该高光谱遥感数据转换为成像仪通道模拟反射率；

投影区域建立模块，以基准遥感器与待定标遥感器的运行轨道交叉点为中心，以待定标遥感器的星下点分辨率为间隔，建立投影区域；

辐射定标系数计算模块，将成像仪通道模拟反射率和成像仪通道反射率均投影至投影区域，对于高光谱遥感器的各像元提取有效交叉定标数据对，并根据该有效交叉定标数据对计算待定标遥感器的辐射定标系数，以校正待定标遥感器实时采集的成像仪通道反射率。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，将该高光谱遥感数据转换为成像仪通道模拟反射率，具体实现如下：

对高光谱遥感数据的量纲进行能量单位转换；

对相邻波段的高光谱遥感数据进行拼接处理，得到完整的高光谱遥感数据；

将完整的高光谱遥感数据转化成待定标遥感器的成像仪通道模拟反射率。