[发明专利]基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除效果的方法

权利要求书

1.一种基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除度的方法，其特征在于，包括步骤：

对获得的菌斑图像进行去高光处理，准确获得菌斑图像中的高光区域，对标记好高光区域的菌斑图像进高光去除处理；

对高光去除后的菌斑图像进行特征提取获得颜色特征参数，和LBP特征谱的统计直方图作为特征向量，将以上特征向量进行归一化处理作为神经网络的数据集对模型进行训练，识别菌斑并对其进行标记；

菌斑面积计算：对图像标记的菌斑区域计算面积；

计算清除率：清除率为菌斑清除前后图像标记菌斑区域面积之比。

2.根据权利要求1所述基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除效果的方法，其特征在于，使用K-means聚类算法获得菌斑图像中的高光区域。

3.根据权利要求1所述基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除效果的方法，其特征在于，计算每个像素到聚类中心的距离：

通过距离来进行划分对菌斑图像像素进行分类，获得高光区域并进行标记。

4.根据权利要求1所述基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除效果的方法，其特征在于，对标记好高光区域的菌斑图像进行高光去除操作，包括：

标记好高光区域的菌斑图像转化为SF图像(保留原始图像中物体集合信息，但是去除了镜面反射)，公式为：

V_sf,i(p)＝V_i(p)-V_min(p)

对SF图像进行修正得到MSF图像,公式为：

其中V_i(p)是象素P第i个通道的颜色值，并且：

V_min(p)＝min(V₁(p)+V₂(p)+V₃(p))

其中N为图像像素点的个数。通过比较V_i(p)和V_msf,i(p)之间的差值，可以将图像象素划分为漫反射点和高光点：

。

5.根据权利要求1所述基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除效果的方法，其特征在于，对经过高光去除处理后的图像进行特征提取操作，包括：

红色分量均值(R)、绿色分量均值(G)、蓝色分量均值(B)、亮度分量均值(I)、色调分量均值(H)和饱和度分量均值(S)作为颜色特征。

6.根据权利要求5所述基于图像分析评价空间舱室材料表面菌斑清除效果的方法，其特征在于，对提取到的颜色特征进行组合，G/B、G/R及R/B纳入到颜色特征中。