[发明专利]晶振频率校准方法、装置以及电子设备

权利要求书

1.一种晶振频率校准方法，其特征在于，该方法包括：

在频率跟踪阶段期间，采集晶振的频率偏移值以及该频率偏移值所对应的温度和时间；

基于采集到的频率偏移值、温度和时间进行拟合，得到所述晶振的频率偏移值随着温度和时间变化的函数；

利用所得到的函数来校准所述晶振的频率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在频率跟踪阶段期间，采集晶振的频率偏移值以及该频率偏移值所对应的温度和时间，包括：

在所述频率跟踪阶段期间，定期采集所述晶振的频率偏移值以及该频率偏移值所对应的温度和时间；和/或

在每次完成频率捕获阶段并刚进入所述频率跟踪阶段时，采集所述晶振的频率偏移值以及该频率偏移值所对应的温度和时间。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法还包括：以三元组{e_k，x_k，y_k}的形式存储采集到的频率偏移值、温度和时间，并且按照如下公式进行存储：

其中，K表示所述三元组的最大存储数量，e_k、x_k、y_k分别表示第k个频率偏移值、温度和时间，分别表示最新采集时刻的频率偏移值、温度和时间。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于采集到的频率偏移值、温度和时间进行拟合，得到所述晶振的频率偏移值随着温度和时间变化的函数，包括：

从所存储的K个三元组中选取N个三元组；

利用二元预测法对所选取的N个三元组进行拟合，得到所述晶振的频率偏移值随着温度和时间变化的二元函数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，按照如下方式从所存储的K个三元组中选取N个三元组：

(1)N≤K

(2)N要大于等于所述二元函数中待估参数的个数

(3)所述N个三元组为最新的N个三元组，或者所述N个三元组中每个三元组的温度值与当前温度最接近。

6.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述二元函数为如下形式：

F(x，y)＝D(x)+A(y)

其中，D(x)表示由温漂引起的频率偏移函数，x表示温度变量；A(y)表示由老化引起的频率偏移函数，y表示时间变量。

7.根据权利要求4或5所述的方法，其特征在于，所述利用二元预测法对所选取的N个三元组进行拟合，得到所述晶振的频率偏移值随着温度和时间变化的二元函数，包括：

根据最小二乘准则，利用二元预测法对所选取的N个三元组进行拟合，得到所述晶振的频率偏移值随着温度和时间变化的二元函数。

8.一种晶振频率校准装置，其特征在于，该装置包括：

采集模块，用于在频率跟踪阶段期间，采集晶振的频率偏移值以及该频率偏移值所对应的温度和时间；

拟合模块，用于基于所述采集模块采集到的频率偏移值、温度和时间进行拟合，得到所述晶振的频率偏移值随着温度和时间变化的函数；

校准模块，用于利用所得到的函数来校准所述晶振的频率。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述采集模块还用于：

在所述频率跟踪阶段期间，定期采集所述晶振的频率偏移值以及该频率偏移值所对应的温度和时间；和/或

在每次完成频率捕获阶段并刚进入所述频率跟踪阶段时，采集所述晶振的频率偏移值以及该频率偏移值所对应的温度和时间。