[发明专利]一种低成本的PoE交换机带载PD的老化测试方法在审
申请号: | 201810777962.6 | 申请日: | 2018-07-16 |
公开(公告)号: | CN109116139A | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 黄石勇 | 申请(专利权)人: | 深圳市吉祥腾达科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人: | 孙伟 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区中山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 老化测试 低成本 带载 研发 测试 | ||
本发明提供了一种低成本的PoE交换机带载PD的老化测试方法,包括以下步骤:S1、测试准备;S2、研发老化测试步骤;S3、工厂老化测试步骤。本发明的有益效果是:可以实现低成本可批量进行PoE交换机老化测试。
技术领域
本发明涉及PoE交换机,尤其涉及一种低成本的PoE交换机带载PD的老化测试方法。
背景技术
PoE交换机(PoE即Power over Ethernet,以太网供电)作为供电设备,研发和工厂批量下线老化测试中,需要满载端口验证其供电性能和稳定性,如采用实际IP camera\AP等PD(PD即Powered Device,受电设备)设备接入,成本过高且交换机端口达不到802.3af或802.3at标准的最大功率输出,从而无法验证PoE交换机在长时间高功率输出下的工作稳定性。因此,如何低成本可批量的进行PoE交换机老化测试是产品生产检测中亟待解决的技术问题。
发明内容
为了解决现有技术中的问题,本发明提供了一种低成本的PoE交换机带载PD的老化测试方法。
本发明提供了一种低成本的PoE交换机带载PD的老化测试方法,包括以下步骤:
S1、测试准备;
S2、研发老化测试步骤;
S3、工厂老化测试步骤。
作为本发明的进一步改进,步骤S1包括以下子步骤:
S11、准备PoE分离器,PoE分离器从PoE交换机的端口受电后,再将数据与电力分离,电力分离后,PoE分离器拨码选择输出电压;
S12、准备水泥电阻,测量以及计算出PoE分离器需负载的电阻值,从而使PoE交换机端口输出可达到最大输出;
S13、接入PoE分离器
作为本发明的进一步改进,步骤S2包括以下子步骤:
S21、计算接入PoE分离器的个数;
S22、将接入27欧电阻的PoE分离器选择输出电压18V;接入6欧电阻的PoE分离器选择输出电压12V;
S23、将PoE交换机放入恒温恒湿箱,通过网线连接PoE交换机端口和PoE分离器的P+D/IN端口,将PoE分离器的D/OUT端口通过网线接入发包仪表;S24、调整恒温恒湿箱的测试环境,再运行发包仪表,老化测试时间内查看发包仪表端口统计的丢包率和PoE分离器的指示灯;
S25、判定数据传输与电力输出是否正常,如果PoE分离器指示灯常亮则表示供电正常,如果丢包率在标准范围内则表示数据传输正常。
作为本发明的进一步改进,步骤S21包括:PoE分离器个数=(PoE交换机输出预警值/15.4)取整+1。
作为本发明的进一步改进,步骤S3包括以下子步骤:
S31、多台PoE交换机同时老化硬件部分,其中包括所有端口的PoE功能,PoE分离器接27欧电阻,每端口输出15.4W,满载可达整体最大输出功率;
S32、将PoE交换机放入恒温恒湿箱内,按要求调整测试环境,PoE交换机所有端口用网线连接PoE分离器P+D/IN端口,再将PoE分离器的D/OUT端口与另一个PoE分离器的D/OUT端口两两相连,造成PoE交换机的所有端口环路,用其中一个PoE分离器的D/OUT端口接可发包设备引入数据包后再接回环路,进行老化;
S33、判定PoE交换机硬件器件老化时间内工作是否正常,通过观察PoE分离器指示灯,判定PoE端口供电是否正常;如果PoE交换机端口指示灯闪烁则表示数据传输正常。
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