[发明专利]执行相交测试以绘制3D场景图像的方法、光线跟踪单元有效

专利信息
申请号: 201810771997.9 申请日: 2018-07-13
公开(公告)号: CN109255828B 公开(公告)日: 2023-09-12
发明(设计)人: G·克拉克;J·W·豪森;S·J·克洛赛特;J·德塞尔 申请(专利权)人: 想象技术有限公司
主分类号: G06T15/06 分类号: G06T15/06
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 党晓林
地址: 英国赫*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 执行 相交 测试 绘制 场景 图像 方法 光线 跟踪 单元
【权利要求书】:

1.一种在光线跟踪系统中执行相交测试以用于绘制3D场景的图像的计算机实现的方法,所述方法包括:

通过以下方式遍历分层加速结构:

根据第一遍历技术遍历所述分层加速结构的一个或多个高级别的节点,所述第一遍历技术是深度优先遍历技术;以及

根据第二遍历技术遍历所述分层加速结构的一个或多个低级别的节点,所述第二遍历技术不是深度优先遍历技术;

其中所述遍历所述分层加速结构的结果被用于绘制所述3D场景的所述图像,其中,所述一个或多个低级别的节点在所述分层加速结构中的所述一个或多个高级别的节点下方。

2.根据权利要求1所述的方法,其中所述第二遍历技术基于广度优先遍历技术,其中节点与光线的相交测试基于节点数据和光线数据的可用性而被调度。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中所述一个或多个高级别的节点在所述分层加速结构的顶部处。

4.根据权利要求1或2所述的方法,其中根据所述深度优先遍历技术所述遍历所述分层加速结构的一个或多个高级别的节点包括:使用度量来确定使所述分层加速结构的节点下降的顺序。

5.根据权利要求4所述的方法,其中所述度量包括距离度量分量,其中所述距离度量分量被布置为使得较近的节点在较远的节点之前下降。

6.根据权利要求4所述的方法,其中所述度量包括遮挡度量分量,其中所述遮挡度量分量被布置成使得具有更多遮挡几何形状的节点在具有较少遮挡几何形状的节点之前下降。

7.根据权利要求4所述的方法,其中所述度量包括相交长度度量分量,其中所述相交长度度量分量被布置成使得具有较长相交间隔的光线的节点在具有较短相交间隔的所述光线的节点之前下降。

8.根据权利要求4所述的方法,其中所述相交的数目的指示被存储用于所述一个或多个高级别的不同节点的,并且其中所述度量包括先前相交度量分量,其中所述先前相交度量分量被布置成基于所述指示使得具有较多相交数目的节点在具有较少相交数目的节点之前下降。

9.根据权利要求1或2所述的方法,其中:

(i)根据所述深度优先遍历技术被遍历的所述高级别的节点的数目被预先确定;或者

(ii)所述方法进一步包括:从存储器检索将根据所述深度优先遍历技术而被遍历的所述高级别的节点的数目的指示,其中所述指示在所述分层加速结构被构建时而被确定,并且被存储在所述存储器中。

10.一种光线跟踪单元,被配置为执行相交测试以用于绘制3D场景的图像,所述光线跟踪单元包括:

相交测试逻辑,被配置为访问分层加速结构并通过以下方式遍历所述分层加速结构:

根据第一遍历技术遍历分层加速结构的一个或多个高级别的节点,所述第一遍历技术基于深度优先遍历技术;以及

根据第二遍历技术遍历分层加速结构的一个或多个低级别的节点,所述第二遍历技术不是深度优先遍历技术;以及

处理逻辑,被配置为使用遍历所述分层加速结构的结果以用于绘制所述3D场景的所述图像,其中,所述一个或多个低级别的节点在所述分层加速结构中的所述一个或多个高级别的节点下方。

11.根据权利要求10所述的光线跟踪单元,其中所述第二遍历技术基于广度优先遍历技术,其中所述相交测试逻辑包括调度逻辑,所述调度逻辑被配置为基于节点数据和光线数据的可用性来调度节点与光线的相交测试,以及其中所述相交测试逻辑进一步包括:

集合收集逻辑,被配置为将相交测试工作项收集到要被并行执行的集合中,其中相交测试工作项标识要被用于相交测试的光线和节点;以及

一个或多个执行单元,被配置为并行执行相交测试工作项的集合;

其中所述调度逻辑被配置为基于工作项的集合中的工作项的数目来调度所述集合以供所述一个或多个执行单元执行。

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