[发明专利]测量设备管理系统和计算机可读介质

说明书

本发明涉及一种测量设备管理系统和计算机可读介质。本发明的测量设备管理系统包括：获取器，用于获取指示多个测量设备的各测量设备中的更换组件的状况的条件信息；以及预测器，用于基于所述获取器所获得的条件信息来预测所述更换组件的更换时间。

技术领域

本发明涉及用于管理/分析各种记录数据的测量设备管理系统，并且特别涉及用于通过分析各种记录数据来估计测量设备的组件的维护和更换、并执行处理的测量设备管理系统。

背景技术

传统地，已经使用了各种测量设备来测量被测物(可测量物或被测量物)的形状和尺寸。作为这样的测量设备，例如已知圆度测量设备和表面纹理测量设备。圆度测量设备和表面纹理测量设备检测在利用具有尖锐尖端的触针追踪被测物的表面时所产生的触针的垂直移动，并且基于所检测到的移动来测量被测物表面的凹凸和纹理。在测量期间，触针在与被测物的表面物理接触的同时移动，因此，触针的尖端根据使用历史而发生磨损。在触针发生磨损的情况下，测量精度降低。在磨损继续时，测量精度变得比可接受界限差，这意味着触针的寿命存在界限，并且必须在适当的时间维护和更换触针。

为了促使在适当的时间更换触针，已经提出了如下的测量设备，其中该测量设备检测触针的移动距离并且在累积移动距离超过阈值时提供更换时间的通知(例如参见日本特开2011-169616)。然而，是否响应于这种通知更换触针取决于管理测量设备的用户或个人的判断。另外，在要更换触针时，还存在可能不容易获得更换用触针的情况。在这种情况下，必须牺牲测量精度或者必须放弃测量。

发明内容

本发明是鉴于以上情形而构思的，并且提供用以使得能够进行测量设备的容易管理的测量设备管理系统。

为了解决以上情形，根据本发明的测量设备管理系统包括获取器和预测器。所述获取器获取用以指示多个测量设备的各测量设备中的更换组件的状况的条件信息。所述预测器基于所述获取器所获得的条件信息来预测所述更换组件的更换时间。

本发明还可以包括：通知机构，用于基于来自所述预测器的预测结果来向生产部门通知与所述更换组件的所需时间和数量有关的信息。此外，基于来自所述预测器的预测结果和所述更换组件的库存，可以向所述生产部门通知与所述更换组件的生产计划有关的信息。所述条件信息优选不是所述测量设备中的测量数据。

在本发明中，所述测量设备例如是圆度测量设备。在这种情况下，所述更换组件可以是触针。所述条件信息可以是累积了所述触针在与被测物相接触的同时移动的距离的接触移动距离。

根据本发明的程序使得计算机能够用作上述的任何测量设备管理系统。

根据本发明的另一方面，一种测量设备管理系统，包括：控制器；以及存储器，用于存储指令，并且作为所述控制器执行所述存储器中所存储的指令时的结构，所述测量设备管理系统还包括：获取器，用于获取用以指示多个测量设备的各测量设备中的更换组件的状况的条件信息；以及预测器，用于基于所述获取器所获得的条件信息来预测所述更换组件的更换时间。

根据本发明的又一方面，一种有形的非暂时性计算机可读介质，其存储用于控制测量设备管理系统的可执行的指令集，其中所述指令集在由计算机处理器执行时使所述计算机处理器执行包括以下步骤的操作：获取步骤，用于获取用以指示多个测量设备的各测量设备中的更换组件的状况的条件信息；以及预测步骤，用于基于所述获取步骤所获得的条件信息来预测所述更换组件的更换时间。

附图说明

在以下的详细说明中，通过本发明的典型实施例的非限制性示例的方式参考所述的多个附图来进一步说明本发明，其中在附图的几个视图中，相同的附图标记表示相似的部件，并且其中：

图1示出测量设备管理系统的典型整体结构；

图2是示出服务器的结构的框图；

图3是测量设备管理系统所管理的圆度测量设备的外观图；