[发明专利]工件表面轮廓在位测量系统及方法在审
| 申请号： | 201810765399.0 | 申请日： | 2018-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN108917552A | 公开（公告）日： | 2018-11-30 |
| 发明（设计）人： | 李学崑;陈占营;张云;蒋昇;杜海涛;王立平 | 申请（专利权）人： | 清华大学;华辰精密装备（昆山）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/20 | 分类号： | G01B5/20 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄德海 |
| 地址： | 10008*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测量工件表面 测量工件 变化量 工件表面轮廓 位移传感器 测量系统 在位 个位移传感器 固定支撑模块 数据采集模块 数据处理模块 位移测量模块 测量精度高 安装方便 垂直工件 实时存储 系统测量 轴线方向 滑动 测量臂 夹持 开放性 测量 | ||
1.一种工件表面轮廓在位测量系统，其特征在于，包括：
位移测量模块,，所述位移测量模块包括两个位移传感器,用于测量被测量工件表面轮廓的变化量；
固定支撑模块，所述固定支撑模块包括两个测量臂，用于夹持所述两个位移传感器，以使所述两个位移传感器垂直工件表面沿所述被测量工件轴线方向滑动；
数据采集模块，用于获取所述被测量工件表面轮廓的变化量；以及
数据处理模块，用于根据所述被测量工件表面轮廓的变化量得到所述被测量工件的当前轮廓，并实时存储所述被测量工件的当前轮廓。
2.根据权利要求1所述的工件表面轮廓在位测量系统，其特征在于，所述两个位移传感器的测量部分根据所述被测量工件表面轮廓的变化而伸缩，以得到所述被测量工件表面轮廓的变化量。
3.根据权利要求1所述的工件表面轮廓在位测量系统，其特征在于，所述两个测量臂包括：
底座，用于磁性吸附于机床，并且在任意方向伸展及固定。
4.根据权利要求1所述的工件表面轮廓在位测量系统，其特征在于，还包括：
供电模块，用于供电。
5.根据权利要求1所述的工件表面轮廓在位测量系统，其特征在于，所述数据处理模块还用于计算所述被测量工件截面的圆度和所述被测量工件的圆柱度，并显示和保存所述截面的圆度和所述被测量工件的圆柱度。
6.根据权利要求5所述的工件表面轮廓在位测量系统，其特征在于，所述数据处理模块在计算所述被测量工件截面的圆度时，所述两个位移传感器的位置固定在所述被测量工件某一截面的位置，且工件旋转一周。
7.根据权利要求6所述的工件表面轮廓在位测量系统，其特征在于，所述数据处理模块在计算所述被测量工件表面轮廓和所述被测量工件的圆柱度时，所述两个位移传感器沿所述被测量工件轴线方向从所述被测量工件一端移动到另一端，同时所述被测量工件旋转。
8.根据权利要求1所述的工件表面轮廓在位测量系统，其特征在于，所述两个位移传感器安装在与工件轴线垂直的同一平面内，并且两个位移传感器间的角度是90度。
9.根据权利要求8所述的工件表面轮廓在位测量系统，其特征在于，所述两个位移传感器的测量部分间的距离为所测工件圆周的四分之一。
10.一种工件表面轮廓在位测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
两个位移传感器垂直工件表面沿所述被测量工件轴线方向滑动，同时旋转被测量工件，以测量所述被测量工件表面轮廓的变化量；
根据所述被测量工件表面轮廓的变化量得到所述被测量工件的当前轮廓，并实时存储所述被测量工件的当前轮廓。
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