[发明专利]一种新型独立式检选机在审
| 申请号： | 201810760778.0 | 申请日： | 2018-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN108962792A | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 朱红伟;张慧;王丽;蔡道库 | 申请（专利权）人： | 江苏纳沛斯半导体有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 223002 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检选机 移动杆 透气框 移杆 限位槽 内部设置 便捷性 独立式 固定槽 限位杆 限位块 移动 表面开设 表面设置 磁铁吸附 槽内部 定位槽 定位杆 定位块 磁铁 开合 位槽 位杆 维护 | ||
1.一种新型独立式检选机，包括检选机本体（1），其特征在于：所述检选机本体（1）的表面设置有透气框（2），所述透气框（2）固定在检选机本体（1）的表面，所述透气框（2）的内部开设有移杆槽（13），所述移杆槽（13）的内部设置有移动杆（3），所述移动杆（3）的两端均安装在移杆槽（13）的内部，所述移动杆（3）的表面开设有限位槽（4），所述限位槽（4）的内部设置有限位杆（5）。
2.根据权利要求1所述的一种新型独立式检选机，其特征在于：所述限位杆（5）为环形结构，所述限位杆（5）的两端均固定在限位槽（4）的内部，且所述限位杆（5）两端的限位槽（4）分别位于两根移动杆（3）的表面。
3.根据权利要求1所述的一种新型独立式检选机，其特征在于：所述移动杆（3）的表面设置有拉杆（6），所述拉杆（6）的一端固定在移动杆（3）的表面，所述拉杆（6）的一侧设置有限位块（7），所述限位块（7）的一端固定在移动杆（3）的表面，所述限位块（7）的表面开设有定位槽（8），所述限位块（7）的内部镶嵌设置有磁铁（9）。
4.根据权利要求1所述的一种新型独立式检选机，其特征在于：所述透气框（2）上端的内部设置有固定槽（10），所述固定槽（10）的内部设置有定位杆（11），所述定位杆（11）的一端镶嵌在固定槽（10）的内部，所述定位杆（11）的另一端设置有定位块（12），所述定位块（12）的一端固定在定位杆（11）的一端，所述定位块（12）的另一端贯穿固定槽（10）的表面。
5.根据权利要求1所述的一种新型独立式检选机，其特征在于：所述限位块（7）和固定槽（10）均为工字形结构，且所述限位块（7）通过定位槽（8）、磁铁（9）、定位杆（11）和定位块（12）固定在固定槽（10）的内部。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
