[发明专利]一种基于双光子计数器宽线性范围的光子测量系统有效
| 申请号： | 201810749438.8 | 申请日： | 2018-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN108827478B | 公开（公告）日： | 2019-11-26 |
| 发明（设计）人： | 钟民;曲洪丰;杨帆;陈晨 | 申请（专利权）人： | 迪瑞医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 22214 长春众邦菁华知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张伟<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 130000 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光子计数器 分光膜 宽线性 测高 入射 光子测量系统 计算处理装置 计数器 光子探测 双光子 探测 化学发光免疫分析 光学检测技术 范围测量 分光装置 输出 被测物 导光棒 反射光 分光比 光能量 光子数 衰减片 透射光 微弱光 光阑 光强 透射 反射 | ||
1.一种基于双光子计数器宽线性范围的光子测量系统，其特征在于，包括导光棒(1)、分光装置(2)、测低值光子计数器(3)、测高值光子计数器(4)、光阑(5)、衰减片(6)和计算处理装置，所述分光装置(2)设置在所述导光棒(1)内，所述测低值光子计数器(3)和所述测高值光子计数器(4)分别与所述计算处理装置连接；
被测物发出的光经所述导光棒(1)入射至所述分光装置(2)的分光膜，经所述分光膜透射的透射光入射至所述测低值光子计数器(3)，经所述分光膜反射的反射光经过所述光阑(5)和所述衰减片(6)后入射至所述测高值光子计数器(4)；
所述计算处理装置判断所述测高值光子计数器(4)输出的第一测值是否大于阈值，所述阈值为所述测低值光子计数器(3)的线性最高点对应的所述测高值光子计数器(4)的光子数，若是，则所述计算处理装置输出光子探测值，所述光子探测值为所述第一测值与所述分光膜的分光比的乘积；若所述第一测值小于或者等于所述阈值，且所述测低值光子计数器(3) 输出的第二测值小于或者等于所述线性最高点对应的光子数，则所述光子探测值为所述第二测值。
2.根据权利要求1所述的一种基于双光子计数器宽线性范围的光子测量系统，其特征在于，
所述分光膜的透射光与反射光的分光比为100：1。
3.根据权利要求1或2所述的一种基于双光子计数器宽线性范围的光子测量系统，其特征在于，
所述分光装置2为分光棱镜或者分光片。
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