[发明专利]一种屏幕检测方法及检测系统

说明书

本发明公开了一种屏幕检测方法，可实现液晶屏点、线和Mura等常见点灯缺陷的检测，包括：通过将待检测屏幕内X轴、Y轴方向上的样本像素灰度值对应于正常屏幕内X轴、Y轴方向上的对照像素灰度值周期做差，当差值大于预设值，即样本像素灰度值的变化量大于预设值时，则判定为屏幕点、线缺陷。还包括：采用人工智能检测方法检测屏幕的Mura缺陷。本发明还提供了一种屏幕检测系统，包括检测区，所述检测区包括：采集装置、储存装置、判断装置以及视觉对位装置。本发明提供一种屏幕检测方法，通过周期算法、人工智能检测方法检测屏幕的点缺陷、线缺陷以及Mura缺陷，同时，本发明还提供了一种屏幕检测系统，提高了屏幕检测的效率、精度以及信息化程度。

技术领域

本发明涉及屏幕检测方法技术领域，尤其涉及一种屏幕检测方法及检测系统。

背景技术

在液晶屏幕的生产过程中，屏幕显示缺陷检测是其中一个重要环节，通过屏幕检测工序以检测屏幕是否存在缺陷，以避免缺陷品流入市场。

目前主要通过人工检测或半自动点灯检测的方式对屏幕加以检测。人工检测的检测效率较低，检测一块屏幕的时间大约为45S，并且易忽略屏幕中的暗点缺陷，误检率较高。而半自动检测中主要采取人工对位的方式，导致检测效率较低，并且检测精度相比人工检测方式并没有太大的改善，误检率高的问题得不到有效的解决。

发明内容

本发明的目的在于提供一种屏幕检测方法及检测系统，以解决上述问题。

为达此目的，本发明采用以下技术方案：

一种屏幕检测方法，包括点、线缺陷检测方法，所述点、线缺陷检测方法包括如下步骤：

采集正常屏幕图像，通过图像处理得到对照图像，获取对照图像的对照像素灰度值周期；

采集待检测屏幕图像，通过图像处理得到样本图像，获取待检测屏幕图像的样本像素灰度值；

将所述样本像素灰度值与所述像素灰度值周期内的照像素灰度值一一做差，当样本像素灰度值对应的差值大于预设值时，则判定为屏幕缺陷。

可选的，在将所述样本像素灰度值与对照像素灰度值周期一一做差时，若差值大于预设值的样本呈点状，则该缺陷判定为点缺陷。

可选的，在将所述样本像素灰度值与对照像素灰度值周期一一做差时，若差值大于预设值的样本呈线状，则该缺陷判定为线缺陷。

可选的，所述图像处理包括滤波处理。

可选的，还包括Mura缺陷检测方法，所述Mura缺陷检测方法包括：

采集屏幕图像，并进行Mura缺陷检测；

当出现Mura缺陷时，将该屏幕标记为有缺陷屏幕；当不存在Mura缺陷时，将该屏幕标记为无缺陷屏幕；

建立样本图像数据库，重复上述步骤，直至采集到满足检测精度的足够数量的样本图像，并将样本图像储存于所述样本图像数据库中。

本发明还提供了一种屏幕检测系统，包括检测区，所述检测区包括：

采集装置，用于采集图像；

储存装置，用于储存经过所述采集装置采集所得样本图像数据库，所述储存装置电连接所述采集装置；

判断装置，用于判断图像是否存在缺陷，所述判断装置电连接所述采集装置；

视觉对位装置，所述视觉对位装置电连接所述对位平台并对准所述工作台，用于实现屏幕方位的调整。

可选的，所述检测区内设有安装架，所述采集装置装设于所述安装架上；