[发明专利]一种WOLED面板和WOLED显示装置有效
申请号: | 201810739127.3 | 申请日: | 2018-07-06 |
公开(公告)号: | CN109065568B | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 房好强 | 申请(专利权)人: | 海信视像科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 莎日娜 |
地址: | 266100 山东省青*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 woled 面板 显示装置 | ||
1.一种WOLED面板,包括多个像素单元,所述多个像素单元中的每个像素单元包括红色子像素、白色子像素、蓝色子像素和绿色子像素,其特征在于,
所述红色子像素的面积大于所述蓝色子像素的面积;
所述红色子像素的面积大于所述绿色子像素的面积;
所述红色子像素与所述白色子像素之间的面积差值小于或等于预设面积;
所述WOLED面板显示红色、白色、蓝色、绿色画面时,发光材料层的衰减时间基本相同,也即发光材料层被激发而显示不同颜色画面时,发光材料的损耗速度基本相同;
其中,发光材料层的衰减时长通过如下步骤确定:
WOLED显示装置在面积相同的4个测试区域分别显示红色、绿色、蓝色和白色,且这4个测试区域通过最大的亮度进行显示;
对于4个测试区域之外的其他底色区域,通过50%的亮度显示白色;
经过长时间的持续显示之后,在白色图卡下观察4个测试区域的残影程度,也即,WOLED显示装置的所有像素单元均以50%的亮度显示白色时,对4个测试区域的残影程度进行观察;
当观察到某个测试区域的残影程度达到残影判定标准时,将持续显示的时长,确定为WOLED显示装置显示该测试区域对应颜色时发光材料层的衰减时长。
2.根据权利要求1所述的WOLED面板,其特征在于,所述预设面积为所述白色子像素的面积的0.2倍。
3.根据权利要求1所述的WOLED面板,其特征在于,所述红色子像素与所述绿色子像素的面积之比大于或等于1.6,且小于或等于1.8。
4.根据权利要求1所述的WOLED面板,其特征在于,所述白色子像素与所述绿色子像素的面积之比大于或等于1.6,且小于或等于1.8。
5.根据权利要求1所述的WOLED面板,其特征在于,所述蓝色子像素与所述绿色子像素的面积之比大于或等于1,且小于或等于1.3。
6.根据权利要求1所述的WOLED面板,其特征在于,所述红色子像素与所述白色子像素的面积之比大于或等于0.9,且小于或等于1.1。
7.根据权利要求1所述的WOLED面板,其特征在于,所述红色子像素、所述白色子像素、所述蓝色子像素和所述绿色子像素的面积之比为1.8:1.7:1.2:1。
8.一种WOLED显示装置,其特征在于,所述WOLED显示装置包括权利要求1至7任一所述的WOLED面板。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的