[发明专利]一种电子测试设备用微调装置

说明书

本发明公开了一种电子测试设备用微调装置，包括托盘，所述托盘的顶部开设有放置槽，所述放置槽内固定安装有水平柱，所述托盘的底部四角位置上均设有支撑柱，所述支撑柱的顶部开设有移动槽，所述移动槽内滑动连接有支撑杆，所述支撑杆的一侧焊接有齿条，所述支撑杆的顶端延伸至支撑柱的上方并与托盘的底部相焊接，所述移动槽的一侧内壁上开设有转动孔，所述转动孔内转动连接有转轴，所述转轴的一端延伸至移动槽内并与移动槽的另一侧内壁转动连接，所述转轴上固定套设有齿轮。本发明操作简单，通过转动齿轮和转动螺纹盘可以使得水平柱进行水平，此时就可以将低温试验箱放置在托盘上，可以使得低温试验箱处于水平位置。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种电子测试设备用微调装置。

背景技术

低温试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域必备的测试设备，用于测试和确定电工、电子及其他产品及材料进行高温、低温、或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能，低温范围从0度到-80度均可。

现如今在放置低温试验箱时，需要水平放置，这就常常需要托盘来辅助低温试验箱放置，然而现有的托盘不具有水平调节的功能，所以在对低温试验箱进行水平调节时，就会非常的不方便，所以我们提出一种电子测试设备用微调装置，用于解决上述所提出的问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种电子测试设备用微调装置。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种电子测试设备用微调装置，包括托盘，所述托盘的顶部开设有放置槽，所述放置槽内固定安装有水平柱，所述托盘的底部四角位置上均设有支撑柱，所述支撑柱的顶部开设有移动槽，所述移动槽内滑动连接有支撑杆，所述支撑杆的一侧焊接有齿条，所述支撑杆的顶端延伸至支撑柱的上方并与托盘的底部相焊接，所述移动槽的一侧内壁上开设有转动孔，所述转动孔内转动连接有转轴，所述转轴的一端延伸至移动槽内并与移动槽的另一侧内壁转动连接，所述转轴上固定套设有齿轮，所述齿轮位于移动槽内并与齿条相啮合，所述支撑柱的底部焊接有螺纹柱，所述螺纹柱上螺纹连接有螺纹盘，所述螺纹盘的底部滑动连接有支脚，所述支脚的顶部开设有连接槽，所述螺纹柱的底端延伸至连接槽内。

优选的，所述移动槽的另一侧内壁上开设有转动槽，所述转轴的一端延伸至转动槽内并与转动槽转动连接。

优选的，所述转轴的另一端延伸至支撑柱的外侧并焊接有转盘，所述转盘上开设有滑动孔，所述滑动孔内滑动连接有制动杆，所述支撑柱的一侧开设有卡槽，所述制动杆的一端延伸至卡槽内并与卡槽相卡装。

优选的，所述支脚的顶部焊接有环形滑轨，所述螺纹盘的底部开设有环形滑槽，所述环形滑轨与环形滑槽滑动连接。

优选的，所述螺纹盘上开设有螺纹孔，所述螺纹孔内开设有内螺纹，所述螺纹杆上设有外螺纹，所述内螺纹与外螺纹螺纹连接。

优选的，所述移动槽的一侧内壁上开设有限位滑槽，所述支撑杆上焊接有限位滑板，所述限位滑槽与限位滑板滑动连接。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：首先转动转盘，可以带动齿轮进行转动，因为齿轮与齿条相啮合，所以会带动齿条向上位移，在齿条向上位移时，可以带动支撑杆向上位移，进而可以使得托盘向上位移，再观察水平柱接近水平的位置时，此时推动制动杆，将制动杆推送至卡槽内，对齿轮进行限位，然后转动螺纹盘，带动支撑柱向上位移，直至水平柱水平，此时就可以对托盘进行水平调节。

本发明操作简单，通过转动齿轮和转动螺纹盘可以使得水平柱达到水平位置，此时就可以将低温试验箱放置在托盘上，可以使得低温试验箱处于水平位置。

附图说明

图1为本发明提出的一种电子测试设备用微调装置的结构主视图；