[发明专利]基于计圈信号及初始固定特征进行瑕疵定位的方法

说明书

本发明公开了一种基于计圈信号及初始固定特征进行瑕疵定位的方法，应用于大圆机上织布的瑕疵定位。所述大圆机包括计圈传感器、圈数感应端及相机；所述大圆机的转速波动不大于阈值σ，所述计圈传感器固定在所述大圆机的机架上，所述圈数感应端随布面转动，所述相机的视口指向布面，所述布面上具有初始固定特征。通过布面的初始固定特征及计圈信号，计算移动每个分辨率所耗费的时间或计算每秒移动的分辨率，即可计算出瑕疵在布面上的位置，实现快捷有效的定位。

技术领域

本发明涉及纺织技术领域，具体涉及一种基于计圈信号及初始固定特征进行瑕疵定位的方法。

背景技术

大圆机在工作时难免会出现瑕疵，为了节约人工值守成本并提高生产效率，机器视觉及人工智能被应用到大圆机的在线检测中。一旦发现满足条件的瑕疵，立马停机并报警，现场人员可以根据瑕疵定位及时处理机器对应位置的故障，可以减少时间及原材料的浪费。但由于大圆机工作时所织布匹一直处于旋转状态，发现瑕疵以后如何进行有效的定位是一个难题。目前有应用的方案包括使用角度传感器或者伺服电机等进行角度的实时跟踪和反馈，但这些方案成本高、系统结构复杂，让大圆机内部原本就很狭小的空间变得更为局促。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于计圈信号及初始固定特征进行瑕疵定位的方法。

为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

基于计圈信号及初始固定特征进行瑕疵定位的方法，应用于大圆机上织布的瑕疵定位，所述大圆机包括计圈传感器及圈数感应端，所述圈数感应端随布面转动；

所述大圆机还包括相机，所述相机的视口指向布面，所述布面上具有初始固定特征；所述大圆机的转速波动不大于阈值σ；

其瑕疵定位包括以下步骤：

S1、获取布面的初始固定特征；

S2、获取所述大圆机的计圈信号，记录每圈起始时间，以获取发现初始初始固定特征或瑕疵的时间；

S3、在同一圈或不同圈抓取两组(t1,x1)，(t2,x2)，代入下式计算移动每个分辨率所耗费的时间b；

式中，t1及t2为所述相机抓取到所述初始固定特征的中心点的时间，且t₁≠t₂；x₁及x₂为所述初始固定特征的中心点距离所述相机视口在所述布面的起点的分辨率值；

S4、存储移动每个分辨率所耗费的时间b的计算结果；

S5、则对于检测到的任意瑕疵，其位于所述布面的处，式中，td为瑕疵中心点的抓拍时间，xd为瑕疵中心点距离所述相机视口在所述布面的起点的分辨率值；T为布面旋转一圈所用的时间。

进一步地，所述步骤S3及S4通过下述步骤替代：

S3、在同一圈或不同圈抓取两组(t1,x1)，(t2,x2)，代入下式计算每秒移动的分辨率a；

式中，t1及t2为所述相机抓取到所述初始固定特征的中心点的时间，且t1≠t2；x1及x2为所述初始固定特征的中心点距离所述相机视口在所述布面的起点的分辨率值，且x1≠x2；

S4、存储每秒移动的分辨率a的计算结果；

S5、则对于检测到的任意瑕疵，其位于所述布面的处，式中，td为瑕疵中心点的抓拍时间，xd为瑕疵中心点距离所述相机视口在所述布面的起点的分辨率值；xc为布面旋转一圈所移动的总像素。

进一步地，所述初始固定特征为剖幅线、已知瑕疵点或人为制造布面特征。