[发明专利]一种光纤套管拔出装置

说明书

本发明涉及光通信辅具技术领域，尤其涉及一种用于光纤插芯或PIN针与套管之间脱离的套管拔出装置，套管组件包括套管以及插入所述套管内、且外露部分带头部的插入件；其特征在于：包括用于卡合所述套管的第一卡座、用于卡合所述插入件的头部的第二卡座、以及令所述第一卡座和第二卡座沿所述插入件的轴向分离的顶出机构。本发明的发明目的在于提供一种用于光纤插芯或PIN针与套管之间脱离的光纤套管拔出装置，采用本发明提供的技术方案解决了插芯或PIN针插入套管后较难甚至无法拔出的问题。

技术领域

本发明涉及光通信辅具技术领域，尤其涉及一种用于光纤插芯或PIN针与套管之间脱离的套管拔出装置。

背景技术

在光通讯飞速发展的今天，光缆和连接器在这个链路中是非常必要的，其使用也越来越普遍，连接器的使用就必须涉及到两个连接器的对接。光纤连接器是光纤通信系统中不可缺少的无源器件，主要用于实现系统中设备间、设备与仪表间、设备与光纤间以及光纤与光纤间的非永久性两个端面精密地对接起来，使发射光纤输出的光能量最大限度地耦合到接收光纤中。大多数的光纤连接器由三部分组成：两个配合插头(插芯)和一个耦合套管。两个插芯装进两根光纤尾端；耦合套管起对准的作用，套管多配有金属或非金属法兰，以便于连接器的安装固定，实现陶瓷插芯的规模化生产作业。

在插芯与套管的生产过程中，裸套管对接插损(IL)测试和张力测试是其技术参数中最重要的参数之一。其中裸套管对接插损(IL)测试是针对插芯与套管之间的技术参数测试；韧性测试在本技术行业内对应的测试为张力测试，则是对PIN针与套管之间的技术参数测试，即用大于套管内径公差的PIN针用力穿透整只套管看是否破裂。套管根据适用产品、长度以及材质分为多种型号的套管，无论是何种套管，也无论是小批量、大批量甚至是样品制造，都涉及到裸套管对接插损(IL)测试和张力测试。

在上述两种测试过程中，均需要将套管从插入件无损脱下，文章中将插芯和PIN针统称为插入件，以完成对接插损(IL)值和张力测试。在插入件插入套管后，与套管之间过盈配合，使得套管拔出难度较大。

现有的做法通常是：徒手拔，徒手拔时需一手捏住套管，另一手捏住插芯将插芯拔出，拔出过程中会导致手持套管的一边越用力，则套管对插芯的握紧力越大，越难拔出；借助尖嘴钳等工具将其拔出，因此类工具非专门设备，如用力不合适会对套管和插芯造成损伤，甚至为了拔出插芯而采取夹破套管的方式。

因此，在对插芯和套管进行裸套管对接插损(IL)测试和张力测试时，由于不存在较为完善的插芯拔出装置，造成测试耗时耗力、效率低下、对产品有损伤，插芯容易磨损导致测量出现误差，造成批量性误判。

发明内容

本发明的发明目的在于提供一种用于光纤插芯或PIN针与套管之间脱离的光纤套管拔出装置，采用本发明提供的技术方案解决了插芯或PIN针插入套管后较难甚至无法拔出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种光纤套管拔出装置，用于待拔出的套管组件，所述套管组件包括套管以及插入所述套管内、且外露部分带头部的插入件；其特征在于：包括用于卡合所述套管的第一卡座、用于卡合所述插入件的头部的第二卡座、以及令所述第一卡座和第二卡座沿所述插入件的轴向分离的顶出机构。

其中，所述插入件为带规柄的PIN针或带尾柄的插芯。

优选的，所述第一卡座和第二卡座分别形成有相互叠置的卡板，且在两块所述卡板的边缘处对应形成缺口；所述缺口的宽度不小于插入件的直径，且不大于套管或插入件头部的直径；所述插入件嵌于所述缺口内，所述套管和插入件头部分别抵靠于两个所述缺口处。