[发明专利]测温装置和测温方法在审
申请号: | 201810721446.1 | 申请日: | 2018-07-03 |
公开(公告)号: | CN108917935A | 公开(公告)日: | 2018-11-30 |
发明(设计)人: | 王蕾;向在奎;聂兰舰;杜秀蓉;贾亚男 | 申请(专利权)人: | 中国建筑材料科学研究总院有限公司 |
主分类号: | G01J5/00 | 分类号: | G01J5/00 |
代理公司: | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人: | 王伟锋;刘铁生 |
地址: | 100024*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 彩色图像 测温装置 待测物 像素点 数据采集分析单元 图像获取单元 温度检测单元 测温 迭代计算 温度参数 预设距离 参考 制备 检测 生产 | ||
1.一种测温装置,其特征在于,包括:
图像获取单元,所述图像获取单元用于获取待测物的彩色图像;
温度检测单元,所述温度检测单元用于检测所述待测物的初始参考温度值;
数据采集分析单元,所述数据采集分析单元分别与所述图像获取单元和所述温度检测单元相连,所述数据采集分析单元用于分别接收到所述彩色图像和所述初始参考温度值,并计算得到所述彩色图像中第一个像素点的温度值,且通过迭代计算依次得到所述彩色图像中全部所述像素点的温度值;
所述数据采集分析单元包括数据采集模块和工控机;
所述数据采集模块与所述图像获取单元相连,所述数据采集模块用于接收所述彩色图像;
所述工控机分别与所述数据采集模块和所述温度检测单元相连,所述数据采集模块将所述彩色图像传输至所述工控机,所述工控机用于将所述彩色图像进行三原色分离,分别得到三幅单色图像,并对所述三幅单色图像的灰度分布进行统计分析,确定进行各所述像素点测温计算时的单色图像,进而确定测温计算时的波长。
2.根据权利要求1所述的测温装置,其特征在于,
所述工控机用于确定进行各所述像素点测温计算时的单色图像,进而确定测温计算时的波长是根据以下步骤完成:
当|R-128|<|G-128|且|R-128|<|B-128|时,R的计数增加1;
当|G-128|<|R-128|且|G-128|<|B-128|时,G的计数增加1;
当|B-128|<|R-128|且|B-128|<|G-128|时,B的计数增加1;
其中,R、G、B分别为三幅单色图像的灰度值;
选择计数最大的单色图为测温计算用图;
选择计数最大的单色图的波长为测温计算时的波长。
3.根据权利要求2所述的测温装置,其特征在于,
所述像素点的位置分布在极坐标系上。
4.根据权利要求3所述的测温装置,其特征在于,
所述初始参考温度值为圆心温度值;
所述工控机用于根据第一计算式计算得到所述彩色图像中各所述像素点的温度值;
所述第一计算式为其中,θ=0°~359°,θ为所述彩色图像第N个所述像素点的极坐标的极角;r为所述彩色图像第N个所述像素点的极坐标的极径;Tθ,r为所述彩色图像第N-1个所述像素点的温度值;Tθ,(r+d)为所述彩色图像第N个所述像素点的温度值;d为所述彩色图像第N-1个所述像素点与所述彩色图像第N个所述像素点的计算间距;C2为第二辐射常数,C2=ch/k=1.439×10-2(m·k);λ为测温计算时的波长;E为光谱辐射亮度。
5.根据权利要求1所述的测温装置,其特征在于,所述工控机还用于,在计算得到所述彩色图像全部所述像素点的温度值后,
根据所述彩色图像全部所述像素点的温度值制成待测物温度场分布图;和/或,
所述工控机还用于输入所述像素点的坐标时显示位于该坐标的所述像素点的温度值。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测温装置,其特征在于,还包括:
冷却装置,所述冷却装置包覆所述图像获取单元。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的测温装置,其特征在于,还包括:
透镜组,所述透镜组位于所述图像获取单元与所述待测物之间,所述图像获取单元透过所述透镜组获取所述待测物的所述彩色图像。
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