[发明专利]轨迹间的局部光顺过渡方法、设备及存储介质有效
| 申请号: | 201810716469.3 | 申请日: | 2018-06-29 |
| 公开(公告)号: | CN108829031B | 公开(公告)日: | 2022-04-29 |
| 发明(设计)人: | 刘焕;王昕;柏子平 | 申请(专利权)人: | 深圳市汇川技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G05B19/19 | 分类号: | G05B19/19 |
| 代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 陆军 |
| 地址: | 518101 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 轨迹 局部 过渡 方法 设备 存储 介质 | ||
1.一种轨迹间的局部光顺过渡方法,其特征在于,所述轨迹包括第一轨迹和第二轨迹,且所述第一轨迹与所述第二轨迹相交于衔接点,所述第一轨迹和第二轨迹中的至少一个为空间圆弧或样条轨迹,所述方法包括:
获取第一轨迹上异于所述衔接点的第一过渡点,并以所述第一过渡点与所述衔接点为端点构建第一直线轨迹,且所述第一直线轨迹与第一轨迹的弓高误差不超过预设弓高误差;
获取第二轨迹上异于所述衔接点的第二过渡点,并以所述第二过渡点与所述衔接点为端点构建第二直线轨迹,且所述第二直线轨迹与第二轨迹的弓高误差不超过所述预设弓高误差;
对所述第一直线轨迹和第二直线轨迹进行局部光顺过渡生成过渡曲线,并将所述过渡曲线作为第一轨迹与第二轨迹的过渡轨迹;
在所述第一轨迹为空间直线时,所述获取第一轨迹上异于所述衔接点的第一过渡点包括:将所述第一轨迹的起点作为所述第一过渡点;
在所述第一轨迹为空间圆弧时,所述获取第一轨迹上异于所述衔接点的第一过渡点包括:
计算所述第一过渡点所在的圆心角θi:其中Ri为第一轨迹的半径,为第一轨迹的圆心角,min(,)为较小值运算,δ为预设弓高误差;
根据所述圆心角θi计算第一过渡点Pi:
其中Pci为第一轨迹的圆心,Psi为第一轨迹的起点,Ni为第一轨迹所在平面单位法矢,符号“×”表示向量的向量积运算;
在所述第一轨迹为样条轨迹时,所述获取第一轨迹上异于所述衔接点的第一过渡点包括:
计算所述第一过渡点对应的曲线参数ui:
其中usi和uei分别为所述第一轨迹的起点和终点参数,D’(uei)和D”(uei)分别为所述第一轨迹在参数uei处的一阶和二阶导矢,符号“,”表示向量的数量积运算,符号“||.||”表示向量的模长计算,Ki为过渡长度,且其中ri为所述第一轨迹在参数uei处的曲率半径,且
将所述曲线参数ui作为变量代入第一轨迹表达式,计算获得第一过渡点Pi。
2.根据权利要求1所述的轨迹间的局部光顺过渡方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述第一过渡点更新所述第一轨迹;以及,根据所述第二过渡点更新所述第二轨迹。
3.根据权利要求2所述的轨迹间的局部光顺过渡方法,其特征在于,在所述第一轨迹为空间直线时,所述更新所述第一轨迹包括:更新所述第一轨迹的终点为所述第一过渡点。
4.根据权利要求2所述的轨迹间的局部光顺过渡方法,其特征在于,在所述第一轨迹为空间圆弧时,
所述更新所述第一轨迹包括:更新所述第一轨迹的终点为所述第一过渡点,并更新所述第一轨迹的圆心角为
5.根据权利要求2所述的轨迹间的局部光顺过渡方法,其特征在于,在所述第一轨迹为样条轨迹时,所述更新所述第一轨迹包括:更新所述第一轨迹的终点参数为ui。
6.根据权利要求2所述的轨迹间的局部光顺过渡方法,其特征在于,在所述第二轨迹为空间直线时,所述获取第二轨迹上异于所述衔接点的第二过渡点包括:将所述第二轨迹的终点作为所述第二过渡点;
所述更新所述第二轨迹包括:更新所述第二轨迹的起点为所述第二过渡点。
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