[发明专利]数控机床的温度补偿方法及系统有效
| 申请号: | 201810714608.9 | 申请日: | 2018-07-02 |
| 公开(公告)号: | CN108829033B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
| 发明(设计)人: | 李波;鲁壮;刘克非;陈国华;刘宏伟 | 申请(专利权)人: | 湖北文理学院;襄阳华中科技大学先进制造工程研究院;襄阳华科装备制造工程研究院有限公司 |
| 主分类号: | G05B19/404 | 分类号: | G05B19/404 |
| 代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 胡海国 |
| 地址: | 441053 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 数控机床 温度 补偿 方法 系统 | ||
1.一种数控机床的温度补偿方法,其特征在于,包括:
获取数控机床不同位置的多个温度测量值,根据所述多个温度测量值计算温度平均值;
获取工件的标签信息、数控系统的种类以及所述温度平均值,根据所述标签信息、所述数控系统的种类以及所述温度平均值确定误差估计值;
根据所述误差估计值调整所述数控系统的工作参数;
所述根据所述多个温度测量值计算温度平均值,包括:计算所述多个温度测量值的原始平均值;从所述多个温度测量值中排除与所述原始平均值的差值大于预设值的温度测量值,根据剩余的温度测量值计算所述温度平均值;
所述根据剩余的温度测量值计算所述温度平均值,包括:对剩余的温度测量值进行加权平均计算,获得所述温度平均值,其中,对温度变化比较敏感的位置测得的温度测量值采取更高的权重,对温度变化不够敏感的位置测得的温度测量值采取稍低的权重,或者,对工件加工影响较大的位置测量的值采取更高的权重;
所述根据所述标签信息、所述数控系统的种类以及所述温度平均值确定误差估计值,包括:通过所述标签信息识别出工件的种类,根据所述工件的种类、所述数控系统的种类以及所述温度平均值对工件进行温度补偿计算,确定误差估计值。
2.一种温度补偿系统,其特征在于,包括:
数控机床;
数控系统,与所述数控机床连接,用于控制所述数控机床;
多个温度传感器,设置在所述数控机床上,用于测量所述数控机床不同位置的温度测量值;
控制器,与所述多个温度传感器相连,用于获取工件的标签信息、数控系统的种类以及所述多个温度传感器测得的多个温度测量值,并根据所述多个温度测量值计算温度平均值,以及将所述标签信息、所述数控系统的种类以及所述温度平均值发送至计算设备;
计算设备,用于接收所述标签信息、所述数控系统的种类以及所述温度平均值,根据所述标签信息、所述数控系统的种类以及所述温度平均值确定误差估计值,将所述误差估计值发送至数控系统;其中,计算设备用于根据所述标签信息、所述数控系统的种类以及所述温度平均值确定误差估计值,包括:所述计算设备用于通过所述标签信息识别出工件的种类,根据所述工件的种类、所述数控系统的种类以及所述温度平均值对工件进行温度补偿计算,确定误差估计值;
所述数控系统,用于根据所述误差估计值进行参数调整;
所述控制器用于:根据所述多个温度测量值计算温度平均值,具体为:计算所述多个温度测量值的原始平均值,从所述多个温度测量值中排除与所述原始平均值的差值大于预设值的温度测量值;根据剩余的温度测量值计算所述温度平均值;
所述控制器包括数据采集模块以及数据处理模块;其中,所述数据采集模块用于获取工件的标签信息、数控系统的种类以及所述多个温度传感器测量的多个温度测量值;所述数据处理模块用于计算所述多个温度测量值的原始平均值,从所述多个温度测量值中排除与所述原始平均值的差值大于预设值的温度测量值,根据剩余的温度测量值计算温度平均值;
所述控制器还具体用于对剩余的温度测量值进行加权平均计算,获得所述温度平均值,其中,对温度变化比较敏感的位置测得的温度测量值采取更高的权重,对温度变化不够敏感的位置测得的温度测量值采取稍低的权重,或者,对工件加工影响较大的位置测量的值采取更高的权重。
3.根据权利要求2所述的温度补偿系统,其特征在于,所述控制器还包括多路选择器,所述多路选择器与所述数据采集模块连接,所述多路选择器通过多个测量通道与所述多个温度传感器一一对应连接。
4.根据权利要求2所述的温度补偿系统,其特征在于,所述温度补偿系统还包括射频识别RFID读写器,所述RFID读写器与所述控制器连接,用于获取工件的标签信息,将工件的标签信息发送至所述控制器。
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