[发明专利]用于传感器的参数化的方法

说明书

本发明涉及一种用于工业过程中的至少一个传感器的动态参数化的方法，其中，借由配置传感器和生产性传感器获取过程的测量数据，其中，配置传感器和生产性传感器是相同类型的传感器；将测量数据传输到控制单元；控制单元参照测量数据生成用于生产性传感器的参数集，并将该参数集传送到生产性传感器；和生产性传感器在操作中使用参数集。

技术领域

本发明涉及一种用于工业过程中的至少一个传感器的动态参数化的方法。

背景技术

在例如用于工件或物品的制造，分类和/或处理的工业过程中，通常使用多个传感器来观察或检测工件。然后从传感器的测量数据中收集用于控制工业过程的数据。

传感器的参数(这意味着它们的配置)通常设置一次。在此设置中，参数适应于工业过程中通常存在的边界条件。例如，传感器可以是摄像机，其曝光时间设定为典型的亮度条件和/或要观察的工件的颜色和亮度。如果例如在工业过程中处理具有不同颜色的工件，则通常设置摄像机的参数，使得摄像机在所有可能的条件下提供令人满意的结果。

然而，这种方法的缺点在于，必须针对传感器的非常广泛的可能的应用范围来设置参数，使得由传感器提供的测量数据的质量经常需要改进。

发明内容

因此，本发明的基本目的是提供一种用于传感器的参数化的方法，该方法允许提高传感器的测量数据的质量。

该目的根据本发明通过根据权利要求1所述的方法来满足。

根据本发明的方法用于在工业过程中的至少一个传感器的参数化。在该方法中，

借由配置传感器和生产性传感器获取过程的测量数据，其中配置传感器和生产性传感器是相同类型的传感器；

至少将配置传感器的测量数据或仅将配置传感器的测量数据传送给控制单元；

控制单元参照/基于测量数据生成用于生产性传感器的参数集，并将参数集传送到生产性传感器；和

生产性传感器在操作中使用参数集。

本发明使用两个相同类型的传感器，即配置传感器和生产性传感器，其中配置传感器连接在生产性传感器的上游。生产性传感器的参数化参照由配置传感器确定的过程的测量数据来进行。

例如，可参照配置传感器的测量数据确定过程中当前存在哪些环境条件。基于环境条件(这意味着基于该过程的当前边界条件)，便可以在生产性传感器中使用关于边界条件优化的配置。然后，借由参数集将优化配置传送到生产性传感器，即可实现工业过程的理想记录。因此可以以特定于测量对象和/或关于通过时间的方式来确定优化参数集。由于关于通过时间的参数集的生成，可以使用针对当前相应环境条件的相应理想参数集。参数集的设置因此在操作中动态地发生，以便能够对变化的环境条件作出反应。

生成的参数集还可以传送到配置传感器以更改配置传感器的设置。或者，配置传感器的设置也可以保持不变。

因此，可以在不同的边界条件下将不同的参数集加载到生产性传感器中，从而也可以通过具有不同边界条件的生产性传感器实现各自的理想结果。这是通过布置在上游并且允许检测边界条件的配置传感器实现的。

为确定边界条件，控制单元对配置传感器的测量数据进行评价，并基于测量数据生成用于生产性传感器的相应的参数集。例如，控制单元可以从多个参数集中选择用于生产性传感器的相应的特别合适的参数集。随后，将参数集例如作为数字数据包传送给生产性传感器。生产性传感器接收参数集中包含的参数，并相应地改变其配置。然后，将用于观察工业过程的生产性传感器的设置适应于当前存在的边界条件，使得生产性传感器能够提供关于工业过程的理想的测量数据。

每个传感器(即配置传感器和生产性传感器)与控制单元耦合，优选地通过数字数据连接与控制单元耦合。控制单元可以单独配置并与传感器间隔开，或者控制单元也可以集成到传感器之一中。