[发明专利]显示屏外围电路检测方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明提供一种显示屏外围电路检测方法、装置、电子设备及存储介质，通过接收部署在显示屏外围电路生产线上的控制台发送的质量检测请求，所述质量检测请求中包含所述显示屏外围电路生产线上的图像采集设备采集的显示屏外围电路图像；将所述显示屏外围电路图像放大或缩小，得到大小与缺陷检测模型的输入大小要求一致的待测图像，其中，所述缺陷检测模型是对历史缺陷显示屏外围电路图像进行实例分割算法MASK RCNN训练得到的；将所述待测图像输入到缺陷检测模型中得到缺陷检测结果；根据所述缺陷检测结果确定所述显示屏外围电路图像对应的显示屏外围电路的质量好坏。该技术方案的缺陷检测准确度高、系统性能好，业务扩展能力高。

技术领域

本发明涉及缺陷检测技术，尤其涉及一种显示屏外围电路检测方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

随着科技的发展，信息显示技术在人们生活中的作用与日俱增，显示屏也因其体积小、重量轻、功率低、分辨率高、亮度高和无几何变形诸多特点被广泛应用。但在显示屏的生产过程中，由于工艺及环境的原因可能导致显示屏外围电路存在缺陷，例如，点类缺陷、异物类缺陷和划痕类缺陷等。因而，显示屏外围电路检测是生产过程中的重要环节。

现有技术中，显示屏外围电路检测主要采用人工检测或机器辅助的人工检测方法。具体的，人工检测方法是指依赖行业专家肉眼观察从生产环境中采集到的图片给出判断；机器辅助的人工检测方法是指首先利用固化有行业专家经验的质检系统对待检测的显示屏外围电路图像进行检测，初步筛选出疑似存在缺陷的图片，再由行业专家对疑似存在缺陷的图片进行人工检测判断。

然而，不管是人工检测方法，还是机器辅助的人工检测方法均受人的主观影响因素较大，检测准确度低、系统性能差，业务扩展能力低。

发明内容

本发明提供一种显示屏外围电路检测方法、装置、电子设备及存储介质，以克服现有显示屏外围电路缺陷检测方法中由于受人的主观影响因素较大，致使检测准确度低、系统性能差、业务扩展能力低的问题。

根据本发明的第一方面，提供一种显示屏外围电路检测方法，包括：

接收部署在显示屏外围电路生产线上的控制台发送的质量检测请求，所述质量检测请求中包含所述显示屏外围电路生产线上的图像采集设备采集的显示屏外围电路图像；

将所述显示屏外围电路图像放大或缩小，得到大小与缺陷检测模型的输入大小要求一致的待测图像，其中，所述缺陷检测模型是用历史缺陷显示屏外围电路图像进行实例分割Mask RCNN算法训练得到的；

将所述待测图像输入到缺陷检测模型中得到缺陷检测结果；

根据所述缺陷检测结果确定所述显示屏外围电路图像对应的显示屏外围电路的质量好坏。

可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，在所述将所述显示屏外围电路图像输入到缺陷检测模型中得到缺陷检测结果之前，还包括：

以历史缺陷显示屏外围电路图像的实际像素类别对所述缺陷检测模型进行所述Mask RCNN算法训练，以使所述缺陷检测模型对所述历史缺陷显示屏外围电路图像输出的预测像素类别，与所述实际像素类别之间的损失值低于预设损失阈值。

可选地，在第一方面的另一种可能实现方式中，在所述将所述显示屏外围电路图像放大或缩小之前，还包括：

对所述显示屏外围电路图像进行图像预处理，其中，所述图像预处理包括下述处理中的一项或多项：

裁边、剪切、旋转。

可选地，在第一方面的再一种可能实现方式中，所述将所述待测图像输入到缺陷检测模型中得到缺陷检测结果，包括：

根据负载均衡策略，确定承载处理资源的检测模型服务器；