[发明专利]一种用于陶瓷电路基板BGA垂直互联的焊盘及制作方法在审
| 申请号: | 201810706216.8 | 申请日: | 2018-06-29 |
| 公开(公告)号: | CN109037187A | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
| 发明(设计)人: | 岳帅旗;杨宇;刘志辉;张刚;徐洋 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
| 主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L21/48 |
| 代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 钱成岑 |
| 地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 陶瓷电路基板 焊盘 金属化 互联 金属化膜层 垂直 种子层 凹坑 焊球 种子层表面 凹坑表面 凹坑结构 三维结构 向下凹陷 高可靠 钳制 焊接 制作 | ||
1.一种用于陶瓷电路基板BGA垂直互联的焊盘,其特征在于,包括凹坑、金属化种子层和金属化膜层,所述凹坑设于陶瓷电路基板表面,所述金属化种子层设于所述凹坑表面,所述金属化膜层设于所述金属化种子层表面。
2.根据权利要求1所述的用于陶瓷电路基板BGA垂直互联的焊盘,其特征在于,所述凹坑的直径长为0.05mm~1.0mm。
3.根据权利要求1所述的用于陶瓷电路基板BGA垂直互联的焊盘,其特征在于,所述凹坑的深度为0.003mm~0.2mm。
4.根据权利要求1所述的用于陶瓷电路基板BGA垂直互联的焊盘,其特征在于,所述金属化种子层组分为Ti/W/Au;所述金属化种子层厚度为150nm~400nm。
5.根据权利要求1所述的用于陶瓷电路基板BGA垂直互联的焊盘,其特征在于,所述金属化膜层组分为Ni/Au,或者Ni/Pd/Au;所述金属化膜层的厚度为1μm~6μm。
6.根据权利要求5所述的用于陶瓷电路基板BGA垂直互联的焊盘,其特征在于,所述Ni层厚度为1μm~5μm,所述Pd层厚度为0.05μm~0.5μm,所述Au层厚度为0.05μm~0.3μm。
7.权利要求1~6任一项所述的用于陶瓷电路基板BGA垂直互联的焊盘的制作方法,其特征在于,包括步骤:
1)在陶瓷电路基板表面加工凹坑;
2)在凹坑表面制作金属化种子层;
3)在金属化种子层表面制作金属化膜层。
8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,步骤1)所述凹坑的加工方法为数控钻铣或激光刻蚀法;步骤2)所述金属化种子层的加工方法为薄膜溅射法;步骤3)所述金属化膜层的加工方法为电镀法或化学镀法。
9.一种提高BGA球剪切强度的方法,其特征在于,利用权利要求1~7任一项所述的焊盘钳制BGA焊球,从而提高BGA球剪切强度。
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