[发明专利]基于大型高频卫星系统的EIRP平面近场测试方法有效
申请号: | 201810683977.6 | 申请日: | 2018-06-28 |
公开(公告)号: | CN108964743B | 公开(公告)日: | 2021-05-21 |
发明(设计)人: | 宋玉亭;范迎春;游月辉;陈华;赵庆广;张伟夫;郁海勇;徐侃;王瀚霆 | 申请(专利权)人: | 上海卫星工程研究所 |
主分类号: | H04B7/185 | 分类号: | H04B7/185;H04B17/10;H04B17/15;H04B17/29 |
代理公司: | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人: | 李佳俊;郭国中 |
地址: | 200240 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 大型 高频 卫星 系统 eirp 平面 近场 测试 方法 | ||
1.一种基于大型高频卫星系统的EIRP平面近场测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一,地面标定激励源信号功率,根据星上发射机输入输出特性曲线及表格,设置激励信号功率为发射机输入饱和功率回退值,地面激励源设置为关闭状态,正常接入星上发射机;
步骤二,根据测试频段调节接收探头与发射天线的距离,并将探头对准发射天线中心处;
步骤三,卫星加电后,数管分系统、发射机加电正常工作;当发射机稳定工作时,地面激励源设置为开状态,探头对辐射功率进行扫描接收,扫描完成后,卫星断电;
步骤四,将地面激励源接入地面对应频段的标准天线,用接收探头完成对标准天线的扫描;
步骤五,根据卫星天线扫描结果和标准增益天线扫描结果,结合回退功率,计算EIRP;
所述步骤五中EIRP计算方法如下:设标准增益天线采样电平为P1,卫星天线采样电平为P2,地面设备送至标准增益天线和卫星天线的激励电平为P,则测试所得EIRP为P2-P1+P;根据发射机输入输出特性曲线,计算获得激励信号回退对应的输出功率P0=10*LOG(P饱和/P回退),从而得到实际的EIRP为P2-P1+P+P0。
2.根据权利要求1所述的基于大型高频卫星系统的EIRP平面近场测试方法,其特征在于,所述步骤一中发射机输入功率回退具体数值需根据相应发射机实际的特性曲线选择,但需确保回退功率足够小,不会因接收探头反射引起发射机的损伤。
3.根据权利要求1所述的基于大型高频卫星系统的EIRP平面近场测试方法,其特征在于,述步骤三包括以下步骤:
步骤三十一,开始,地面供电阵电流设置,接通地面供电阵,卫星加电;
步骤三十二,地面综合测试系统发送发射机加电指令,卫星正常响应,发射机加电正常;
步骤三十三,地面综合测试系统发送发射机上低压指令,四分钟后,发射机自动完成上高压;
步骤三十四,地面综合测试系统发送通道选通指令,射频链路打开;
步骤三十五,地面激励源发送激励信号,平面近场测试设备控制探头进行扫描;
步骤三十六,扫描结束后,地面激励源关闭,综合测试系统发送发射机断低压,间隔5秒后发送发射机关机,遥测确认指令响应正常;
步骤三十七,卫星断电,断开地面供电阵;
步骤三十八,结束。
4.根据权利要求1所述的基于大型高频卫星系统的EIRP平面近场测试方法,其特征在于,所述步骤二中,接收探头与发射天线的距离R与天线工作频率有关,需满足3λ≤R≤10λ,其中λ表示波长。
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