[发明专利]一种利用工艺矿物学检测系统对含金矿物进行研究的方法

权利要求书

1.一种利用工艺矿物学检测系统对含金矿物进行研究的方法，其特征在于步骤及参数如下：

1）、样品制备：将矿石样品进行固化、磨制与抛光，得到样品磨片；

2）、样品检测：将第1）步制备好的样品磨片放入电镜中，抽真空，调整电镜，得到清晰的图像；在工艺矿物学检测系统中选择性颗粒测量模式下，将背景阈值设置为180-200，检测最小颗粒在0.6-1微米，能谱最大输出400kcps，最大能量范围40kV后，进行检测；

3）、检测结果处理：根据工艺矿物学检测系统生成的检测结果，得到包括样品中金元素的赋存状态、样品中含金矿物的嵌布特征和粒度在内的数据；

4）、初步实验：根据第3）步得到的数据确定工艺流程进行初步选冶，得出金的回收率值；

5）、初步实验产品检测：将第4）步得到的尾矿依次按照第1）、第2）和第3）步进行样品制备、样品检测和检测结果处理，查找尾矿中含金矿物的赋存状态，进而确定深入实验选冶工艺流程；

6）、深入实验研究：根据第5）步确定的深入实验选冶工艺流程进行实验，通过比对实验过程中包括药剂制度、作业浓度和粒度在内的条件，得到优化实验参数，进而得到金的回收率；

7）、深入实验产品检测：将第6）步深入实验研究得到的尾矿依次按照第1）、2）、3）步进行样品制备、样品检测和检测结果处理，明确深入实验研究过程中尾矿中的金元素的赋存状态并根据金的含量和解离度要求确定损失的金是否具有回收价值或回收可能性；

8）、结果相互印证：将第6）步最终实验得出的金的回收率与第7）步工艺矿物学检测结果得出的理论金的回收率互相比对，若一致，则表明工艺矿物学检测结果与选冶实验研究切实可行，能够确保检测与研究成果转换为一线生产的转化率；若不一致，则需要将第2）步样品检测过程中的背景阈值设置为160-180，检测最小颗粒在0.3-0.6微米，其他不变，重复第2）、3）、4）、5）、6）、7）和8）步。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤1）中矿石样品粒度控制在2mm以内。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：步骤2）中抽真空至真空度小于2.5×10^-3Pa；调整电镜灰度标准化及检测基数在170-200Kcps。