[发明专利]一种电子系统在轨单粒子效应验证系统有效
| 申请号: | 201810677177.3 | 申请日: | 2018-06-27 |
| 公开(公告)号: | CN109003645B | 公开(公告)日: | 2022-01-21 |
| 发明(设计)人: | 彭勃;王博;李璟璟;邵思霈;金东东;王文丛;楚新波;肖婷;郝晓云 | 申请(专利权)人: | 山东航天电子技术研究所 |
| 主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56;G05B19/042 |
| 代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 仇蕾安;付雷杰 |
| 地址: | 264003 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 电子 系统 粒子 效应 验证 | ||
1.一种电子系统在轨单粒子效应验证系统,包括两个以上能够进行数据交互的被测电子系统,其特征在于,所述验证系统包括:空间环境探测器、FPGA控制器及供电模块;
所述FPGA控制器分别与两个以上被测电子系统和所述空间环境探测器相连;
两个以上被测电子系统具备自检测功能,通过自检测统计由于单粒子效应引起的数据错误,并将统计的数据错误作为监测数据发送给FPGA控制器;同时所述两个以上被测电子系统将数据交互 过程中由于单粒子效应引起的数据错误作为监测数据发送给FPGA控制器;所述被测电子系统由被测ARM子系统和DSP子系统构成;自检测 时,ARM子系统和DSP子系统通过错误检测与纠正对内部数据储存区进行定时读写刷新,统计和分析由于单粒子翻转引起的数据错误,并将统计结果发送到FPGA控制器;数据交互时,DSP子系统接收ARM子系统通过串口总线传输的FFT源数据,累加和校验通过后,与DSP子系统自身预存的源数据进行比较,预存数据采用三取二比对方式,若比较出错,则进行“FFT源数据错误计数”累加,并放弃此次计算;若比较一致,则进行FFT运算,计算结果与预存的结果进行比较,预存数据采用三取二比对方式,若计算错误则进行“FFT计算结果错误计数”结束此次FFT运算,DSP子系统负责将错误计数打包上传FPGA控制器;
所述空间环境探测器通过探测空间环境甄别出有效粒子事件,采集有效粒子事件脉冲高度作为监测数据发送给FPGA控制器;
所述FPGA控制器用于存储被测电子系统和空间环境探测器发来的监测数据;
所述供电模块用于为整个系统供电,并为空间环境探测器提供高压偏置;
通过对比被测电子系统和空间环境探测器发来的监测数据,确认产生数据错误的时刻是否发生了单粒子效应来进行单粒子效应验证:若产生数据错误的时刻发生了单粒子效应,表明数据错误是由单粒子效应引起的;若产生数据错误的时刻没有发生单粒子效应,表明数据错误不是由单粒子效应引起的。
2.如权利要求1所述的电子系统在轨单粒子效应验证系统,其特征在于,所述两个以上被测电子系统通过三模冗余方式存储数据。
3.如权利要求1所述的电子系统在轨单粒子效应验证系统,其特征在于,所述空间环境探测器包括LET探头、质子探头和电子学板;LET探头用于探测LET谱段并产生电荷信号传给电子学板,质子探头用于探测质子谱段并产生电荷信号传给电子学板,电子学板用于放大接收到的电荷信号并甄别出有效粒子事件;LET探头、质子探头分别固定在电子学板上。
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