[发明专利]一种非易失存储器擦除方法及装置在审
| 申请号： | 201810664024.5 | 申请日： | 2018-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN110634524A | 公开（公告）日： | 2019-12-31 |
| 发明（设计）人： | 刘第;杜宇 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司;西安格易安创集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/14 | 分类号： | G11C16/14;G11C16/20 |
| 代理公司： | 11319 北京润泽恒知识产权代理有限公司 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 擦除操作 擦除存储块 非易失存储器 逻辑控制模块 擦除 擦除效率 存储 | ||
1.一种非易失存储器擦除方法，其特征在于，所述方法包括：
通过逻辑控制模块确定多个待擦除存储块；
在一次擦除操作中，对所述多个待擦除存储块同时执行擦除操作。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述非易失存储器中包括n个存储块，n为自然数；所述通过逻辑控制模块确定多个待擦除存储块的步骤，包括：
通过逻辑控制模块确定n个待擦除存储块。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
检测所述多个待擦除存储块中的数据是否被完全擦除；
若所述多个待擦除存储块中的数据没有被完全擦除，再次执行对所述多个待擦除存储块的擦除操作。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法应用于多plane非易失存储器。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法应用于非易失存储器的初始化过程。
通过逻辑控制模块确定多个待擦除存储块；
在一次擦除操作中，对所述多个待擦除存储块同时执行擦除操作。
6.一种非易失存储器擦除装置，其特征在于，所述装置包括：
确定模块，用于通过逻辑控制模块确定多个待擦除存储块；
擦除模块，用于在一次擦除操作中，对所述多个待擦除存储块同时执行擦除操作。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述非易失存储器中包括n个存储块，n为自然数；所述确定模块包括：
确定子模块，用于通过逻辑控制模块确定n个待擦除存储块。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，还包括：
检测模块，用于检测所述多个待擦除存储块中的数据是否被完全擦除；若所述多个待擦除存储块中的数据没有被完全擦除，调用所述擦除模块再次执行对所述多个待擦除存储块的擦除操作。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置应用于多plane非易失存储器。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置应用于非易失存储器的初始化过程。
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