[发明专利]一种YTF恒温扫描方法有效

专利信息
申请号: 201810662202.0 申请日: 2018-06-25
公开(公告)号: CN108845205B 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 张峰;张志刚;高朋 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 代理人: 董喜
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 ytf 恒温 扫描 方法
【说明书】:

发明提出了一种YTF恒温扫描方法,以扫描带宽中心频率点为中心,从中心频率点两侧按照对称频率点交替排列的顺序构建扫描序列结构;扫描之前,先将YTF模块的频率设置为带宽的中心频率点,使YTF模块的温度处于带宽内的中心点状态,再按照扫描序列结构进行频率点扫描。本发明为YTF测试提供一种更加简单高效的恒温扫描方法,在保证测试效果的前提下,缩减测试时长,同时不用额外增加对环境温度控制的相关软件设计,减少软件成本。

技术领域

本发明涉及测试技术领域,特别涉及一种YTF恒温扫描方法。

背景技术

现有的YTF(YIG tune filter,YIG调谐滤波器)恒温扫描方法一般是通过人为控制环境温度的变化,来保持YTF的模块温度相对的恒定状态。YTF的模块温度与对应的频率值呈现明显的线性关系,在低频点和高频点时的温度差异明显,因此,现有的恒温扫描方法如图1所示,基本步骤如下:

(1)设置YTF模块的频率;

(2)设置环境温度,如环境试验箱的温度;

(3)通过YTF模块的内置温度传感器读取YTF模块的温度;

(4)判断当前YTF模块的温度是否在恒温测试要求的温度范围内,若在范围内,则对当前频率的YTF模块进行相关指标参数的测试;若不在范围内,则返回步骤(2)。

现有的恒温扫描法存在的缺点如下:

(1)在测试过程中需要连续不断的对环境温度进行调整,以抵消YTF模块温度变化对环境温度的影响,耗时较长。

(2)由于环境温度会受到YTF模块温度的影响,除对YTF模块进行控制之外,还需增加对环境温度控制的软件设计,软件成本相应增加。

发明内容

本发明的目的在于为YTF测试提供一种更加简单高效的恒温扫描方法,在保证测试效果的前提下,缩减测试时长,同时不用额外增加对环境温度控制的相关软件设计,减少软件成本。

本发明的技术方案是这样实现的:

一种YTF恒温扫描方法,扫描之前,先将YTF模块的频率设置为扫描带宽的中心频率点,使YTF模块的温度处于带宽内的中心点状态;再按照扫描序列进行频率点扫描,扫描序列为带宽两侧对称频率点交替排列。

可选地,所述扫描序列为带宽两侧的互相对称的频率点交替排列,同侧频率点的大小顺序随机。

可选地,所述扫描序列为带宽两侧的互相对称的频率点交替排列,同侧频率点按照大小顺序规律排列。

可选地,所述交替排列的过程按预设的步进进行交替。

可选地,所述步进的设置使得YTF模块的温度变化范围满足恒温要求的温度变化范围。

本发明的有益效果是:

(1)缩减了测试时长。

(2)只需要对YTF模块进行软件控制,降低了软件设计成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有的YTF恒温扫描方法的流程图;

图2为本发明的YTF恒温扫描方法的流程图;

图3为本发明的YTF恒温扫描方法的扫描过程的流程图。

具体实施方式

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