[发明专利]瓷砖平整度的测试方法在审
| 申请号： | 201810659451.4 | 申请日： | 2018-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN108645329A | 公开（公告）日： | 2018-10-12 |
| 发明（设计）人： | 刘畅;王太华;廖花妹;吴柏惠;李丽芳 | 申请（专利权）人： | 佛山石湾鹰牌陶瓷有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/28 | 分类号： | G01B5/28 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 528000 广东省佛*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 平整度 瓷砖 瓷砖表面 测试位置 平直尺 测试 厚度测试 依次设置 | ||
1.一种瓷砖平整度的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
提供一瓷砖；
将平直尺依次设置于所述瓷砖表面的若干测试位置，并获取对各个测试位置下平直尺与瓷砖表面之间的缝隙进行厚度测试后的若干个厚度值；
确定所述若干个厚度值中的最大值为所述瓷砖的平整度。
2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述将平直尺依次设置于所述瓷砖表面的若干测试位置的步骤之前，还包括：
将所述瓷砖水平设置于海绵垫之上。
3.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述海绵垫的形状与所述瓷砖的形状相同，所述海绵垫的边缘与所述瓷砖的边缘的距离为D，D≤55mm。
4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述获取对各个测试位置下平直尺与瓷砖表面之间的缝隙进行厚度测试后的若干个厚度值的步骤包括：
获取利用楔形塞尺对各个测试位置下平直尺与瓷砖表面之间的缝隙进行厚度测试后的若干个厚度值。
5.如权利要求1至4中任一项所述的测试方法，其特征在于，所述将平直尺依次设置于所述瓷砖表面的若干测试位置，并获取对各个测试位置下平直尺与瓷砖表面之间的缝隙进行厚度测试后的若干个厚度值的步骤包括：
将平直尺设置于所述瓷砖表面的第一测试位置处；其中，所述平直尺经过所述瓷砖的中心；
获取对第一测试位置下平直尺与瓷砖表面之间的缝隙进行厚度测试后的第一厚度值；
将所述平直尺绕所述瓷砖的中心转动预设角度后，设置于第二测试位置；
获取对第二测试位置下平直尺与瓷砖表面之间的缝隙进行厚度测试后的第二厚度值；
按预设次数重复平直尺的转动与对应缝隙厚度值的获取过程。
6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述预设角度大于或等于20°。
7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述预设角度的范围是30°～60°。
8.如权利要求5述的测试方法，其特征在于，所述预设次数大于或等于3次。
9.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述平直尺的长度大于或等于所述瓷砖对角线的长度。
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