[发明专利]一种多缓冲通道的压接弹片

说明书

本发明公开了一种多缓冲通道的压接弹片，其包括用于连接产品连接器的第一金属转接部、用于连接FPC的第二金属转接部和用于连接第一金属转接部和第二金属转接部的金属弯折部，第一金属转接部、第二金属转接部和金属弯折部一体成型，第一金属转接部和第二金属转接部上均设置有探针头，其特征在于：金属弯折部包括并联布置的外弯折部和内弯折部，外弯折部和内弯折部均由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，内弯折部连接于外弯折部内侧，外弯折部的曲率与内弯折部的曲率不等。本发明结构简单、使用方便，其有效地增加了用于导电的金属弯折部的面积，提高弹片探针的阻抗和导通性。

技术领域

本发明涉及一种压接弹片，属于电子屏幕等非标产品测试技术领域，尤其涉及一种多缓冲通道的压接弹片。

背景技术

在现有技术中，测试治具上的导通装置大部分采用的是弹簧顶针连接器，弹簧顶针连接器由针轴、弹簧、针管三个基本部件通过精密仪器铆压之后形成，由于弹簧顶针连接器的针轴较细且用于安装针轴的针管孔径较小，故弹簧顶针连接器存在不易加工、加工精度难以控制等技术问题。为了解决上述技术问题，中国实用新型专利CN206515372U中公开了一种集成电路测试用的扁平探针，其包括上接触端、弯折段和下接触端，其中，弯折段设置有提供弹性变形的弹簧部、以及用于导通的继电部；继电部上端与上接触端一体成型，其下端与下接触端的侧边接触固定。该发明的使用寿命可以达到常规探针的5倍以上，且导通性能比一般探针更好，但是该发明由于只存在一个弹性弯折段，当探针使用一定的次数后会因为超过探针的弹性屈服率，从而造成探针整体形变、造成接触不良的现象；其次，发明的弯折段整体的宽度基本与探针头的宽度相等且只有一根继电部导电，故其用于导电的继电部面积小，从而造成探针阻抗大、导通性不好的技术问题；再次，该发明的弯折段包括弹簧部和继电部两部分组成，不便于加工制造。

发明内容

本发明的发明是针对上述性能要求，设计一种多缓冲通道的压接弹片，其不仅结构简多、加工制造方便，可以提高测试效率和成功率、增加使用寿命，降低成本。

为解决上述技术问题，本发明采用了这样一种多缓冲通道的压接弹片，所述压接弹片为扁平平板结构，其包括用于连接产品连接器的第一金属转接部、用于连接FPC的第二金属转接部和用于连接第一金属转接部和第二金属转接部的金属弯折部，所述第一金属转接部、所述第二金属转接部和所述金属弯折部一体成型，所述第一金属转接部和所述第二金属转接部上均设置有探针头，其特征在于：所述金属弯折部包括并联布置的外弯折部和内弯折部，所述外弯折部和内弯折部均由既可以导电又可以弹性变形的材料制成，所述内弯折部连接于所述外弯折部内侧，所述外弯折部的曲率与所述内弯折部的曲率不等。

在本发明的一种优选实施方案中，所述外弯折部由多根平行间隔布置的第一金属导带组成。

在本发明的一种优选实施方案中，每根第一金属导带的形状为C形、M形、S形、工形、弓形、多S形中的任意一种。

在本发明的一种优选实施方案中，所述内弯折部由多根平行间隔布置的第二金属导带组成。

在本发明的一种优选实施方案中，每根第二金属导带形状为C形、M形、S形、工形、弓形、多S形中的任意一种。

在本发明的一种优选实施方案中，所述第一金属转接部和所述第二金属转接部与所述金属弯折部均通过金属弧状导带连接。

在本发明的一种优选实施方案中，所述金属弧状导带为半圆形。

在本发明的一种优选实施方案中，探针头的宽度/4≤每根金属导带的宽度≤探针头的宽度/3。

在本发明的一种优选实施方案中，所述探针头的宽度为所述金属导带的宽度的3倍。

在本发明的一种优选实施方案中，所述每根金属导带的阻抗小于50毫欧；所述每根金属导带的过流能力大于3安。