[发明专利]一种基于探针法测量粉末导热系数的实验系统和方法

权利要求书

1.一种基于探针法测量粉末导热系数的实验系统，其特征在于，包括：探针、稳压电源和数据采集设备，其中：

所述探针包括硅片、金属带、聚酰亚胺保护膜和连接导线；

所述探针用于加热和测温，插入待测粉末中，所述稳压电源通过测量电路为探针提供电压；

数据采集设备包括电压表和计算机，所述电压表采集标准电阻、探针的电压，传送至所述计算机中；

所述计算机根据按收的信号计算得到待测粉末的导热系数。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述探针通过如下方式实现：在硅片上以刻蚀或者溅射的方法制作金属带；

在所述金属带表面上涂覆聚酰亚胺保护膜；

将两根导线分别连接到镍带上。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其特征在于，所述硅片的规格为：50-500μm厚，长度为60-150mm，宽度为2-5mm。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的系统，其特征在于，所述金属带的规格为1-4mm。

5.根据权利要求1-3中任一项所述的系统，其特征在于，所述金属带为镍、钽、铂或铜材质。

6.一种基于探针法测量粉末导热系数的实验方法，其特征在于，该方法基于权利要求1-5任一项权利要求所述的基于探针法测量粉末导热系数的实验系统，该方法包括：

将探针插入待测粉末中，通电流进行加热试样；

利用电阻温度特性曲线计算所述探针的电阻R1；

采集探针温度随着时间的变化值，结合预设计算模型，获得待测粉末的导热系数。

7.根据权利要求6中任一项所述的方法，其特征在于，还包括：

将探针、标准电阻RO和恒流源连成回路；

分别测量所述标准电阻RO、所述标准电阻RO的电压U0、所述探针的电压U1。

8.根据权利要求6中任一项所述的方法，其特征在于，关闭所述通电流的恒流源，以进行采集探针温度随着时间的变化值。