[发明专利]一种同轴光学系统的计算机辅助装调方法有效

专利信息
申请号: 201810637401.6 申请日: 2018-06-20
公开(公告)号: CN109031659B 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 侯鹏程;罗义鸣 申请(专利权)人: 湖北三江航天红峰控制有限公司
主分类号: G02B27/00 分类号: G02B27/00;G02B27/62;G06F30/20
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 赵伟
地址: 432000*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 同轴 光学系统 计算机辅助 方法
【权利要求书】:

1.一种同轴光学系统的计算机辅助装调方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:建立待装调光学系统的光学模型并沿光路方向对光学模型中的n个光学元件按序进行编号;根据编号顺序分别建立多个光学子系统Mi,光学子系统Mi中包括光学元件1~i,不同光学子系统Mi中包含的各光学元件的相对位置保持不变;其中,n为大于1的自然数;i=1~n

S2:分别选取光学子系统Mi的像面位置,并通过仿真分析得到光学子系统Mi的理想波前像差F0i

S3:对光学子系统Mi中的光学元件i引入不大于粗装调精度的模拟位置偏差量Δxis,利用光学设计软件对引入所述模拟位置偏差量Δxis后的光学子系统Mi进行仿真分析,得到光学子系统Mi中像面的模拟波前像差Fis

S4:根据模拟位置偏差量Δxis、理想波前像差F0i和模拟波前像差Fis,采用灵敏度矩阵公式分别求解光学子系统Mi对应的灵敏度矩阵并提取光学元件i的灵敏度矩阵Ai

Ai=(Fis-F0i)/Δxis

S5:当i=1时,利用光学元件i的灵敏度矩阵Ai对光学子系统Mi进行公差分析,以光学子系统Mi的物面为基准确定光学子系统Mi的像面位置,并根据公差分析结果对光学子系统Mi中的光学元件i进行粗装调;

i>1时,利用光学元件i的灵敏度矩阵Ai对光学子系统Mi进行公差分析,以光学子系统Mi的物面和已装调好的光学元件i-1为基准确定光学子系统Mi的像面位置,并根据公差分析结果对光学子系统Mi中的光学元件i进行粗装调;

S6:利用波前传感器测量得到粗装调后的光学子系统Mi像面的实际波前像差Fi

S7:由灵敏度矩阵Ai、实际波前像差Fi和理想波前像差F0i反解得到光学元件i的位置偏差量Δxi以及偏差类型;

Δxi=Fi -F0i/ Ai

S8:根据计算得到的光学元件i的位置偏差量Δxi和偏差类型对应调节光学子系统Mi中的光学元件i的位置;

S9:利用波前传感器再次测量光学子系统Mi像面的实际波前像差Fi,并判断该实际波前像差Fi与理想波前像差F0i的偏差是否在允许范围内,若是,则光学元件i装调完成;若否,则返回步骤S6;

S10:按步骤S5~S9的方法,依次完成对光学子系统Mi中的光学元件i的装调。

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