[发明专利]一种显示面板的检测装置及其检测方法

说明书

本发明公开了一种显示面板的检测装置及其检测方法，本发明的检测装置和检测方法利用现有显示面板周边的定位标记，根据其金属层与可操作区内多种金属膜层电性连接的特性，将定位标记复用为测试端子输入对应的测试信号，利用显示面板周边的测试焊盘和定位标记分别对第二检测区域和第一检测区域检测，在不改变显示面板现有结构的前提下，完成对显示面板所有区域的检测，经济高效。

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种液晶面板的检测装置及其检测方法。

背景技术

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display，TFT-LCD)是液晶显示器的一种，它具有低能耗、高亮度、高对比度、高响应速度、环保等特点，被广泛应用于电视、平板显示器及投影仪上。随着技术的革新以及市场的需求，大尺寸面板需求逐年增加，越来越多的面板厂开始提升大尺寸面板的产能占比。在生产大尺寸面板时，玻璃利用率越高，生产成本就越低，且检测区域越大，良品率越高。

如图1所示，现有测试方法利用位于显示面板周边的一测试焊盘11(Test pad)，将测试信号输入测试焊盘11的对应测试端子，并控制电压图像光学系统3(Voltage ImageOptical System，VIOS)沿图中箭头所示的路径移动进行检测。在测试大尺寸显示面板时，靠近测试焊盘11的位置有一小部分区域无法测试，无法测试的屏蔽区域面积占比约7.36％。选用不同的测试方法，无法测试的区域可以是纵向延伸的屏蔽区域1，也可以是横向延伸的屏蔽区域2(图1中屏蔽区域1和屏蔽区域2有部分重合)。如果在阵列制造工序有缺陷在屏蔽区域1或屏蔽区域2形成，则无法自动拦截，影响良率。经过计算，屏蔽区域1的面积小于屏蔽区域2，所以目前选用无法测试区域为屏蔽区域1的测试方法。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供一种显示面板检测装置及其检测方法，将显示面板周边的定位标记复用为测试端子，完整地检测显示面板的所有区域。

本发明提供的技术方案如下：

本发明公开了一种显示面板的检测装置，显示面板包括可操作区、位于可操作区周边的测试焊盘和多个定位标记，测试焊盘包括多个测试端子；所述可操作区包括第一检测区域和第二检测区域，所述可操作区内设有多个导电膜层和多个绝缘膜层；所述定位标记包括金属层、设在金属层上的无机非金属层和设在无机非金属层上的透明导电膜，所述金属层和透明导电膜电性连接，多个定位标记的金属层分别与可操作区内的多个导电膜层电性连接；

所述检测装置为检测治具，所述检测治具包括第一探针坝、连接第一探针坝的多个第一测试探针、第二探针坝和连接第二探针坝的多个第二测试探针；所述第一测试探针输入信号给测试端子并对第二检测区域进行检测，所述第二测试探针输入信号给定位标记并对第一检测区域进行检测。

优选地，所述第一检测区域位于所述可操作区的侧边，所述第二检测区域与第一检测区域连接。

优选地，所述定位标记包括贯穿金属层和无机非金属层的凹槽，所述凹槽呈“L”型或“十”字型。

本发明还公开了一种显示面板的检测方法，采用检测治具对显示面板进行检测；

所述显示面板包括可操作区、位于可操作区周边的测试焊盘和多个定位标记，测试焊盘包括多个测试端子；所述可操作区包括第一检测区域和第二检测区域，所述可操作区内设有多个导电膜层和多个绝缘膜层；所述定位标记包括金属层、设在金属层上的无机非金属层和设在无机非金属层上的透明导电膜，所述金属层和透明导电膜电性连接，多个定位标记的金属层分别与可操作区内的多个导电膜层电性连接；

所述检测治具包括第一探针坝、连接第一探针坝的多个第一测试探针、第二探针坝和连接第二探针坝的多个第二测试探针；

本发明显示面板的检测方法包括以下步骤：