[发明专利]一种均匀性光伏硅片刻蚀机构在审

专利信息
申请号: 201810626895.8 申请日: 2018-06-19
公开(公告)号: CN108831847A 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 殷凤乾 申请(专利权)人: 江苏燕山光伏设备有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67
代理公司: 北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙) 11562 代理人: 宋平
地址: 224200 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 刻蚀槽 控制终端 吹干机 碱洗槽 进料口 刀式 刻蚀 喷头 光伏硅片 硅片清洗 出料口 均匀性 刻蚀均匀性 表面刻蚀 工作效率 硅片损伤 均匀系统 均匀性好 刻蚀系统 收集数据 一端设置 传统的 有效地 玻璃 金属 塑料 分析
【说明书】:

发明公开一种均匀性光伏硅片刻蚀机构,包括控制终端、进料口、刻蚀槽、硅片清洗喷头、碱洗槽、去PSG槽、分刀式吹干机和出料口,控制终端底侧设有进料口,进料口与刻蚀槽固定连接,刻蚀槽内安装有硅片清洗喷头,刻蚀槽一端与碱洗槽固定连接,碱洗槽一端与去PSG槽固定连接,去PSG槽一端与分刀式吹干机连接,分刀式吹干机一端设置有出料口,本发明适应性强,表面刻蚀均匀性好、对硅片损伤少,几乎适用于所有的金属、玻璃、塑料等材料,相对于传统的刻蚀系统,本发明通过控制终端收集数据,对收集到的数据进行分析,通过调整刻蚀均匀系统调整刻蚀均匀性,有效地提高工作效率,具有良好的经济效益和社会效益,适宜推广使用。

技术领域

本发明涉及一种刻蚀系统,具体为一种均匀性光伏硅片刻蚀机构,属于半导体技术领域。

背景技术

半导体制造工艺是一种平面制造工艺,该工艺结合光刻、刻蚀、沉积、离子注入多种工艺,需要在同一衬底上形成大量各种类型的复杂器件,并将其互相连接以具有完整的电子功能。其中,任何一步的工艺出现偏差,都可能会造成电路的性能参数偏离设计值。目前,随着超大规模集成电路的器件特征尺寸不断地比例缩小,集成度不断地提高,对各步工艺的控制及其工艺结果的精确度提出了更高的要求,刻蚀,它是半导体制造工艺,微电子制造工艺以及微纳制造工艺中的一种相当重要的步骤,目前的刻蚀系统只能调整一个刻蚀参数即刻蚀时间来控制目标值,而不能调整刻蚀的均匀性,导致生产出的产品合格率大大降低,增大生产成本,因此针对上述问题,我们提出了一种均匀性光伏硅片刻蚀机构。

发明内容

本发明提供一种均匀性光伏硅片刻蚀机构,通过控制终端内设置有刻蚀均匀系统,解决了现有的刻蚀系统刻蚀不均匀的问题。

为了解决上述技术问题,本发明提供了如下的技术方案:

本发明提供一种均匀性光伏硅片刻蚀机构,包括运行控制器、进料口、刻蚀槽、硅片清洗喷头、碱洗槽、去PSG槽、分刀式吹干机和出料口,所述控制终端底侧设有进料口,所述进料口与刻蚀槽固定连接,所述刻蚀槽内安装有硅片清洗喷头,所述刻蚀槽一端与碱洗槽固定连接,所述碱洗槽一端与去PSG槽固定连接,所述去PSG槽一端与分刀式吹干机连接,所述分刀式吹干机一端设置有出料口。

作为本发明的一种优选技术方案,所述碱洗槽内设置有所述硅片清洗喷头。

作为本发明的一种优选技术方案,所述去PSG槽内设置有所述硅片清洗喷头。

作为本发明的一种优选技术方案,所述刻蚀槽与所述碱洗槽内设有多种强腐蚀性化学药品。

本发明所达到的有益效果是:

本发明适应性强,表面刻蚀均匀性好、对硅片损伤少,几乎适用于所有的金属、玻璃、塑料等材料,相对于传统的刻蚀系统,本发明通过控制终端收集数据,对收集到的数据进行分析,通过调整刻蚀均匀性系统调整刻蚀均匀性,有效地提高工作效率,具有良好的经济效益和社会效益,适宜推广使用。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。

在附图中:

图1是本发明的结构图图;

图中标号:1、控制终端;2、进料口;3、刻蚀槽;4、硅片清洗喷头;5、碱洗槽;6、去PSG槽;7、分刀式吹干机;8、出料口。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。

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