[发明专利]一种均匀性光伏硅片刻蚀机构在审
申请号: | 201810626895.8 | 申请日: | 2018-06-19 |
公开(公告)号: | CN108831847A | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 殷凤乾 | 申请(专利权)人: | 江苏燕山光伏设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 北京东方盛凡知识产权代理事务所(普通合伙) 11562 | 代理人: | 宋平 |
地址: | 224200 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 刻蚀槽 控制终端 吹干机 碱洗槽 进料口 刀式 刻蚀 喷头 光伏硅片 硅片清洗 出料口 均匀性 刻蚀均匀性 表面刻蚀 工作效率 硅片损伤 均匀系统 均匀性好 刻蚀系统 收集数据 一端设置 传统的 有效地 玻璃 金属 塑料 分析 | ||
本发明公开一种均匀性光伏硅片刻蚀机构,包括控制终端、进料口、刻蚀槽、硅片清洗喷头、碱洗槽、去PSG槽、分刀式吹干机和出料口,控制终端底侧设有进料口,进料口与刻蚀槽固定连接,刻蚀槽内安装有硅片清洗喷头,刻蚀槽一端与碱洗槽固定连接,碱洗槽一端与去PSG槽固定连接,去PSG槽一端与分刀式吹干机连接,分刀式吹干机一端设置有出料口,本发明适应性强,表面刻蚀均匀性好、对硅片损伤少,几乎适用于所有的金属、玻璃、塑料等材料,相对于传统的刻蚀系统,本发明通过控制终端收集数据,对收集到的数据进行分析,通过调整刻蚀均匀系统调整刻蚀均匀性,有效地提高工作效率,具有良好的经济效益和社会效益,适宜推广使用。
技术领域
本发明涉及一种刻蚀系统,具体为一种均匀性光伏硅片刻蚀机构,属于半导体技术领域。
背景技术
半导体制造工艺是一种平面制造工艺,该工艺结合光刻、刻蚀、沉积、离子注入多种工艺,需要在同一衬底上形成大量各种类型的复杂器件,并将其互相连接以具有完整的电子功能。其中,任何一步的工艺出现偏差,都可能会造成电路的性能参数偏离设计值。目前,随着超大规模集成电路的器件特征尺寸不断地比例缩小,集成度不断地提高,对各步工艺的控制及其工艺结果的精确度提出了更高的要求,刻蚀,它是半导体制造工艺,微电子制造工艺以及微纳制造工艺中的一种相当重要的步骤,目前的刻蚀系统只能调整一个刻蚀参数即刻蚀时间来控制目标值,而不能调整刻蚀的均匀性,导致生产出的产品合格率大大降低,增大生产成本,因此针对上述问题,我们提出了一种均匀性光伏硅片刻蚀机构。
发明内容
本发明提供一种均匀性光伏硅片刻蚀机构,通过控制终端内设置有刻蚀均匀系统,解决了现有的刻蚀系统刻蚀不均匀的问题。
为了解决上述技术问题,本发明提供了如下的技术方案:
本发明提供一种均匀性光伏硅片刻蚀机构,包括运行控制器、进料口、刻蚀槽、硅片清洗喷头、碱洗槽、去PSG槽、分刀式吹干机和出料口,所述控制终端底侧设有进料口,所述进料口与刻蚀槽固定连接,所述刻蚀槽内安装有硅片清洗喷头,所述刻蚀槽一端与碱洗槽固定连接,所述碱洗槽一端与去PSG槽固定连接,所述去PSG槽一端与分刀式吹干机连接,所述分刀式吹干机一端设置有出料口。
作为本发明的一种优选技术方案,所述碱洗槽内设置有所述硅片清洗喷头。
作为本发明的一种优选技术方案,所述去PSG槽内设置有所述硅片清洗喷头。
作为本发明的一种优选技术方案,所述刻蚀槽与所述碱洗槽内设有多种强腐蚀性化学药品。
本发明所达到的有益效果是:
本发明适应性强,表面刻蚀均匀性好、对硅片损伤少,几乎适用于所有的金属、玻璃、塑料等材料,相对于传统的刻蚀系统,本发明通过控制终端收集数据,对收集到的数据进行分析,通过调整刻蚀均匀性系统调整刻蚀均匀性,有效地提高工作效率,具有良好的经济效益和社会效益,适宜推广使用。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。
在附图中:
图1是本发明的结构图图;
图中标号:1、控制终端;2、进料口;3、刻蚀槽;4、硅片清洗喷头;5、碱洗槽;6、去PSG槽;7、分刀式吹干机;8、出料口。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造