[发明专利]LED光源无损实时芯片可辩测量装置

说明书

本发明提供一种LED光源无损实时芯片可辩测量装置，其包括：成像机构、投影机构、光束采集机构、光谱分析机构以及计算机；LED光源位于成像机构的一侧，投影机构位于成像机构的另一侧，LED光源发出的光束经成像机构投射于投影机构上，光束采集机构包括采集端以及光束传输通道，成像的光束经采集端的采集，沿光束传输通道传输至光谱分析机构，计算机与光谱分析机构相连接并进行数据传输，计算机中存储有光谱‑温度标准曲线，计算机输出测量结果。本发明能够方便地对由多芯片组成的LED光源的结温进行测量，并根据测量结果对LED光源的质量、使用寿命作出评价。同时，测量过程中，不必接触LED光源，保证了测量结果的准确性和实时性。

技术领域

本发明涉及LED光源结温测量技术领域，尤其涉及一种LED光源无损实时芯片可辩测量装置。

背景技术

目前，随着LED的发展，LED光源已经逐步取代了传统光源(如日光灯等)，并在各个领域得到了广泛的应用。为了提供充足的照明，多芯片的LED光源应用而生。然而，由于不同芯片之间性能和质量的差异，各个芯片在工作照明时会有一定的温度差。当该温度差较大时，随着长时间的工作照明，温度最高的芯片会被烧坏，剩余芯片中温度最高的芯片会被依次烧坏，继而导致整个LED光源的报废。因此，对于LED光源的结温进行测量具有重要的意义。然而，现有的LED光源是封装于壳体中的，在不破坏外部壳体的条件下无法直接测量LED芯片的结温温度，而只能获得其周围的结温温度，进而影响了测量结果的准确性。因此，针对上述问题，有必要提出进一步地解决方案。

发明内容

本发明旨在提供一种LED光源无损实时芯片可辩测量装置，以克服现有技术中存在的不足。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：

一种LED光源无损实时芯片可辩测量装置，其包括：成像机构、投影机构、光束采集机构、光谱分析机构、导轨以及计算机；

所述LED光源位于所述成像机构的一侧，所述投影机构位于所述成像机构的另一侧，所述LED光源发出的光束经所述成像机构投射于所述投影机构上，所述光束采集机构包括采集端以及光束传输通道，所述成像的光束经所述采集端的采集，沿所述光束传输通道传输至所述光谱分析机构，所述计算机与所述光谱分析机构相连接并进行数据传输，所述计算机中存储有光谱-温度标准曲线，所述计算机输出测量结果，所述LED光源、成像机构、投影机构、光束采集机构通过各自的滑车依次滑动地设置于所述导轨上，任一所述滑车中设置有驱动所述滑车沿所述导轨滑动的电机，所述电机与所述计算机进行信号传输。

作为本发明的LED光源无损实时芯片可辩测量装置的改进，所述成像机构包括透镜组。

作为本发明的LED光源无损实时芯片可辩测量装置的改进，所述透镜组中包括至少两个并排设置的透镜。

作为本发明的LED光源无损实时芯片可辩测量装置的改进，所述投影机构为投影屏。

作为本发明的LED光源无损实时芯片可辩测量装置的改进，所述投影屏上设置有平面直角坐标系，所述成像位于所述平面直角坐标系中。

作为本发明的LED光源无损实时芯片可辩测量装置的改进，所述光束采集机构包括光纤及位于所述光纤端部的采集端，所述采集端位于定位系统上，所述定位系统包括定位板，所述定位板上开设有与所述平面直角坐标系相对应的若干纵横交叉设置的滑槽，所述采集端带动所述光纤沿所述滑槽于所述平面直角坐标系中各坐标位进行移动。

作为本发明的LED光源无损实时芯片可辩测量装置的改进，所述光纤为玻璃光纤或者石英光纤。

作为本发明的LED光源无损实时芯片可辩测量装置的改进，所述光谱分析机构包括光谱分析仪。

作为本发明的LED光源无损实时芯片可辩测量装置的改进，所述投影机构与光束采集机构之间还设置有滤波机构。