[发明专利]TWAIN标准显微测量系统及测量方法

说明书

本发明TWAIN标准显微测量系统，包括：图像采集模块：可从TWAIN标准显微镜设备采集图像；与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块：与显微镜图像测量模块配合使用的数据储存模块；显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择模块、测量模块，测量算法为点测定、直线测定、圆测定、三角测定、或两线测角等。

技术领域

本发明涉及自动化测量系统，特别涉及一种TWAIN标准显微测量系统及测量方法。

背景技术

通常的显微镜测量工具软件，一般是由显微镜生产厂家提供，该类工具只能使用厂家提供的查看图像等功能，具有严格的局限性，不能很好地满足客户基本测量需求，且不具备软件的可拓展性。且每个软件只能使用一个厂家的设备。

因此，有必要提供一种TWAIN标准显微测量系统及测量方法来解决上述问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种TWAIN标准显微测量系统。

技术方案如下：

一种TWAIN标准显微测量系统，包括：图像采集模块：可从TWAIN标准显微镜设备采集图像；与图像采集模块连通的显微镜图像测量模块： 以及与显微镜图像测量模块配合使用的数据储存模块；显微镜图像测量模块包括搭载于用户界面上图像选择模块、测量算法选择模块、测量模块，测量算法为点测定、直线测定、圆测定、三角测定、或两线测角等。

进一步的，数据储存模块用于读取设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于读取测量记录等；用于保存设置数据、启动数据，比如上次关闭软件时显微镜倍率；用于保存测量记录等。

进一步的，用户界面用于：可视化设备属性读取、设置界面，包括分辨率等属性；可视化画笔预设界面，包括画笔粗细、样式、颜色等；可视化快捷工具界面，包括导出图像、导出表格等；可视化测量界面，包括手动测量，划线等；显示测量结果，测定资讯界面，包括所有测量说明文字等。

进一步的，用户界面上搭载有设备设置模块。

进一步的，用户界面上搭载有画笔预设模块，画笔预设主要是对画笔类型如实线、虚线，画笔粗细如5pt、10pt，画笔字体如宋体、黑体，画笔大小等属性进行配置，用于测量时候画笔的属性预先设置。

进一步的，用户界面上搭载有快捷工具模块，快捷工具包括以下功能，启动校正、十字线设置、放大镜、DEMO测量、导出word、导出excel、导出测量结果等。

进一步的，用户界面上搭载有测定资讯模块，测定资讯表示的是N次测量信息，包括每次测量所使用颜色、测定的类型如点线测量或平行中线测定，选中每个测定结果，可以查看详细的测量数据，比如中心点坐标X和Y，以及测量曲线的长度等。

进一步的，设备设置模块用于自动连接设备，并可由用户打开属性对话框，查看设备分辨率、设备id、设备曝光率、白平衡等参数，偶尔会有部分参数读取不到的情况，则只显示正常读取到的参数；或下发参数设置，更改当前显微镜工作参数。

本发明还提供一种测量方法，测量步骤为：

S1) 图像采集模块实时采集图像数据；

S2)通过用户界面模块操作选择显微镜设备进行连接，同时可通过设备设置模块查看设备属性或设置设备属性，也可通过画笔预设模块设置画笔，等进行都是测量前的准备；

S3）利用直线测定算法进行测量；

S4）通过快捷工具模块导出测量结构，或通过数据储存模块存储当前测量结构或其他参数；

S5）通过测定资讯模块查看测量结果详情。