[发明专利]自动化点源透过率杂散光测试系统及方法

权利要求书

1.自动化点源透过率杂散光测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

步骤一、打开脉冲激光器(1)，等待脉冲激光器(1)稳定；

步骤二、定位待测光学系统(11)，使平行光管(3)出射的平行光充满待测光学系统(11)入口，并使得待测光学系统(11)的中心位于旋转台(6)的旋转中心；

步骤三、第一探测系统(4)对待测光学系统(11)入瞳处的辐照度进行测量，信号采集系统(8)采集测量结果；

步骤四、计算机(9)控制平移机构(5)将第一探测系统(4)移开，直至不再阻挡平行光管(3)出射的激光；

步骤五、计算机(9)控制第二光学衰减装置的衰减倍数初始化为最大等级；

步骤六、计算机(9)控制旋转台(6)转动到最大离轴角度；

步骤七、第二探测系统(7)对焦面处的辐照度进行测量，信号采集系统(8)采集测量结果；

步骤八、计算机(9)判断信号采集系统(8)采集的测量结果是否达到阈值，如果判断结果为是则计算机(9)记录测量结果，否则计算机(9)控制第二光学衰减装置的衰减倍数减小一个等级并返回步骤七；

步骤九、计算机(9)控制旋转台(6)按设定规则转动到下一个离轴角度；

步骤十、重复步骤七至步骤九，计算机(9)根据测量结果计算不同离轴角度下的点源透过率；

步骤十一、绘制不同离轴角度下的点源透过率曲线，根据该曲线评价待测光学系统(11)的杂散光抑制能力；

该方法基于自动化点源透过率杂散光测试系统实现；

自动化点源透过率杂散光测试系统，包括脉冲激光器(1)、光束整形器(2)、平行光管(3)、第一探测系统(4)、平移机构(5)、旋转台(6)、第二探测系统(7)、信号采集系统(8)、计算机(9)和暗室(10)；

脉冲激光器(1)出射的激光经光束整形器(2)整形后入射至平行光管(3)，激光经平行光管(3)准直后入射至旋转台(6)上的待测光学系统(11)；

第一探测系统(4)位于待测光学系统(11)的入瞳处，且固定在平移机构(5)上；第二探测系统(7)位于待测光学系统(11)的焦面处，且位于旋转台(6)上；第一探测系统(4)和第二探测系统(7)均用于测量辐照度，信号采集系统(8)采集测量结果并将测量结果发送给计算机(9)；

计算机(9)，用于接收测量结果并计算点源透过率；还用于控制平移机构(5)、旋转台(6)和信号采集系统(8)实现点源透过率的自动化测量；

第一探测系统(4)、平移机构(5)、旋转台(6)、第二探测系统(7)、信号采集系统(8)和待测光学系统(11)均位于暗室(10)内；

自动化点源透过率杂散光测试系统，还包括第一光学衰减装置和第二光学衰减装置；

平行光管(3)出射的激光经第一光学衰减装置后入射至第一探测系统(4)，第一光学衰减装置与第一探测系统(4)固定连接；待测光学系统(11)出射的杂散光经第二光学衰减装置入射至第二探测系统(7)，第二光学衰减装置与第二探测系统(7)固定连接。

2.根据权利要求1所述的自动化点源透过率杂散光测试方法，其特征在于，步骤九所述的设定规则具体为：旋转台(6)由正向最大离轴角度开始转起，按照设定的步幅逐渐减小离轴角度，直至达到正向最小离轴角度，再由反向最大离轴角度开始转起，按照设定的步幅逐渐减小离轴角度，直至达到反向最小离轴角度。

3.根据权利要求1所述的自动化点源透过率杂散光测试方法，其特征在于，第二光学衰减装置的衰减倍数可变。

4.根据权利要求3所述的自动化点源透过率杂散光测试方法，其特征在于，计算机控制平移机构(5)、旋转台(6)和信号采集系统(8)实现点源透过率的自动化测量，具体为：

用户在计算机(9)界面设定测量模式，当为入口照度测量模式时，计算机(9)控制平移机构(5)将第一探测系统(4)放置在待测光学系统(11)的入瞳处，待测光学系统(11)对入瞳处的辐照度进行测量，计算机(9)还控制信号采集系统(8)采集测量结果；当为焦面照度测量模式时，计算机(9)控制平移机构(5)将第一探测系统(4)移开，直至不再阻挡平行光管(3)出射的激光，计算机(9)还控制旋转台(6)转动，第二探测系统(7)对焦面处的辐照度进行测量，计算机(9)控制信号采集系统(8)采集测量结果。