[发明专利]一种新型TIADC误差检测系统

说明书

本申请公开了一种新型TIADC误差检测系统包括采样模块、误差检测模块和校准模块；采样模块用于采集多通道TIADC的各通道采样数据；多通道TIADC包括多个采样时刻交错的通道，其中之一为基准通道，其他为被校准通道；误差检测模块根据计算得到的时间失配误差检测值调整时间失配误差估计值；校准模块用于当采样时间失配时，根据时间失配误差估计值将基准通道和被校准通道的时间失配误差校准为零。采用本发明提供的方案将误差计算和检测值输出分离，解耦了线性关系，避免了由于计算式本身的局限对频带特性的限制；支持多通道数据同时输入的并行处理；引入负反馈机制动态调整检测值，摆脱已有方法需要对系数进行调整的局限。

技术领域

本发明涉及信号处理领域，尤其涉及一种新型TIADC误差检测系统。

背景技术

高速ADC(Analog to Digital Converter，数模转换器)是高性能信号处理系统的关键部件。在大带宽通信系统、仪器仪表、雷达等复杂系统中均有应用。其性能主要有采样速率和采样有效位数两个指标。

目前国际市场上针对5G商业应用有TI公司和ADI公司的ADC能够达到6Gsps和12bit的有效位，它们均采用了TIADC技术。而国产ADC在单通道性能上能达到12bit/1Gsps的设计水平，因此，在此基础上运用TIADC技术让国产ADC能达到5G商用水平就显得尤为重要。

TIADC技术一直处于发展之中，其基本原理是分时多通道采集，其技术难点在于校准各通道之间的时间失配。国际上的文献和专利提供了诸多校准算法结构，但是并没有最好的通用结构出现，每个结构都有自己的优缺点。其中最大的难点在于，需要对时间失配误差进行估计才能评估校准效果，但是一般很难估计出采样带宽内各式各样信号的精确时间失配误差。有的结构避开求取精确误差值，而只对误差趋势进行判断，靠其他校准结构进行校准。有的结构只能部分精确求取误差值，在有限范围内尽量接近误差真实值，从而辅助校准。本专利提供了一种新型的校准结构，能够克服以上结构的缺陷。

发明内容

为了精确的求取误差估计值，本申请提供了一种新型TIADC误差检测系统。

本申请采用的技术方案是：一种新型TIADC误差检测系统，包括：采样模块、误差检测模块和校准模块；

采样模块用于采集多通道TIADC的各通道采样数据；所述多通道TIADC包括多个采样时刻交错的ADC通道，选择其中之一作为基准通道，其他通道作为被校准通道；

误差检测模块根据计算得到的时间失配误差检测值调整时间失配误差估计值；

校准模块用于当采样时间失配时，根据时间失配误差估计值将基准通道和被校准通道的时间失配误差校准为零。

对于多通道TIADC，采样模块包括一条基准通道与多条被校准通道，每个被校准通道均分别与基准通道进行误差校准。

被校准通道校准后作为基准通道用以校准其他被校准通道。

输入信号Vin进入ADC后，分别进入基准通道和被校准通道；

基准通道的采样数据输入误差检测模块；

被校准通道的采样数据和时间失配误差估计值经校准模块校准后输出校准数据；

基准通道的采样数据和被校准通道的校准数据再经误差检测模块输出时间失配误差估计值，所述时间失配误差估计值再作为校准模块的输入值输入校准模块参与校准模块的校准计算。

所述误差检测模块包括比较子模块、调整子模块和逻辑控制子模块；

所述比较子模块用于比较内部寄存器中存储的时间失配误差检测值的大小，根据比较结果控制所述调整子模块；

所述调整子模块用于根据比较结果调整内部寄存器中存储的时间失配误差估计值和时间失配误差检测值；