[发明专利]一种光伏组件胶膜体积电阻率的测试方法

说明书

本发明提供的一种光伏组件胶膜体积电阻率的测试方法，包括以下步骤：第一步，准备同等尺寸大小的玻璃载片和被测光伏组件胶膜；第二步，测量第一步中所准备的玻璃载片的电阻R_玻璃、玻璃载片的厚度D_玻璃和最小电极面积S_电极；第三步，将第一步准备的被测光伏组件胶膜层压到上述玻璃载片上，得到胶膜玻璃载片；第四步，测量第三步中胶膜玻璃载片的电阻R_总和胶膜玻璃载片的厚度D_总；第五步，根据公式计算得到被测光伏组件胶膜的体积电阻率ρ_胶膜；通过上述方法得到的体积电阻率明显低于裸胶膜的，对比裸胶膜和胶膜层压到玻璃时胶膜的体积电阻率可以得出，裸胶膜的体积电阻率大于胶膜层压到玻璃时胶膜的，并且在不同的测试温度范围内，此规律均一致，说明此方法的测试适用的温度范围较广。

技术领域

本发明属于光伏电池领域，具体涉及一种光伏组件胶膜体积电阻率的测试方法。

背景技术

PID是光伏组件在系统端承受系统电压时而出现的功率衰减现象。此问题一直严重影响光伏组件的可靠性。

为了解决PID问题，行业内采用高体积电阻率的胶膜(如POE)。这是因为依据欧姆定律，胶膜的体积电阻率越大，系统电压在胶膜的压降越大，在电池上的压降越小，从而使电池不易被破坏。

从以上分析可以得出，胶膜的体积电阻率对组件PID性能很关键。如何准确测试胶膜的体积电阻率是个关键问题。目前的测试方法为将裸胶膜层压后放在两个金属电极之间施加电压进行测试，见图1；然后依据公式(1)计算出体积电阻率：

ρ＝RS/d (1)

其中，ρ为体积电阻率，R为电阻，S样品面积，d样品厚度。

然而针对光伏组件来说，此测试方法会导致胶膜的体积电阻率测试偏高。这是因为胶膜的导电方式分为三个阶段，阶段一：瞬时电流，由电子和原子极化引起的电流；阶段二：极化电流，由极性基团和偶极矩极化引起的电流；电流三：漏电流，可移动的离子，自由电子在电场下的迁移电流，见图2；其中对PID影响最大的电流为漏电流。

常规的方法可以准确测试出瞬时电流和极化电流，但是测试不准漏电流。这是因为在光伏组件中使用含钠的玻璃，钠会在浓度梯度和电场下迁移到胶膜中，导致胶膜的漏电变大，也就是说体积电阻率变低，见图3。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光伏组件胶膜体积电阻率的测试方法，解决了现有的对高体积电阻率的胶膜进行测试时，导致胶膜的体积电阻率测试偏高的问题。

为了达到上述目的，本发明采用的技术方案是：

本发明提供的一种光伏组件胶膜体积电阻率的测试方法，包括以下步骤：

第一步，准备同等尺寸大小的玻璃载片和被测光伏组件胶膜；

第二步，测量第一步中所准备的玻璃载片的电阻R_玻璃、玻璃载片的厚度D_玻璃和最小电极面积S_电极；

第三步，将第一步准备的被测光伏组件胶膜层压到上述玻璃载片上，得到胶膜玻璃载片；

第四步，测量第三步中胶膜玻璃载片的电阻R_总和胶膜玻璃载片的厚度D_总；

第五步，根据公式计算得到被测光伏组件胶膜的体积电阻率ρ_胶膜：

优选地，第三步中，将第一步准备的被测光伏组件胶膜层压到上述玻璃载片上的具体方法是：