[发明专利]自校准的弱光检测装置

说明书

本发明涉及一种自校准的弱光检测装置，包括：箱体，箱体包括前置室、检测室及参考室；信号光学系统，信号光学系统包括信号光收集器和光子计数模块，信号光收集器设于前置室，光子计数模块设于检测室；及参考光学系统，参考光学系统用于信号光学系统的校准，参考光学系统包括漫反射腔、设于漫反射腔内的参考光源与光电探测器、电连接参考光源与光电探测器的光电控制板及连通光子计数模块与漫反射腔的光阑，光电控制板电连接光子计数模块；漫反射腔、参考光源、光电探测器及光电控制板安装于参考室，光阑连通检测室与参考室。其具有能很好提高校准的稳定性，并且结构简单，保证了稳定性及其性能的基础上节约了成本的特点。

技术领域

本发明涉及化学发光免疫检测设备技术领域，特别是涉及自校准的弱光检测装置。

背景技术

化学发光免疫检测属于弱光检测范畴，环境的温度变化往往会使弱光检测装置产生温度漂移等问题，导致弱光检测装置对同一标准信号光的响应不一致。此外，由于器件老化等因素也会导致弱光检测装置的响应发生变化。传统的弱光检测装置为了解决温漂和老化等问题大多采用复杂的校准光路系统，如各种反射镜、分光镜、滤光片等，一些校准光学系统采用多片平面反射镜，反射光的角度变化是反射镜角度变化的2倍，对于微弱光检测装置，其微小的变化将对光子数发生较大的变化，这将直接影响校准的准确性，而且，这类装置结构复杂、成本高、装配和调试要求高、批量生产效率低，并且复杂的结构增加其不稳定性的风险系数。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种自校准的弱光检测装置，其具有能很好提高校准的稳定性，并且结构简单，保证了稳定性及其性能的基础上节约了成本的特点。

一种自校准的弱光检测装置，包括：

箱体，箱体包括参考室、前置室及连通前置室的检测室；

信号光学系统，信号光学系统包括信号光收集器和光子计数模块，信号光收集器和光子计数模块沿信号光的发射方向依次设置，信号光收集器设于前置室，光子计数模块设于检测室；及

参考光学系统，参考光学系统用于信号光学系统的校准，参考光学系统包括漫反射腔、设于漫反射腔内的参考光源与光电探测器、电连接参考光源与光电探测器的光电控制板及连通光子计数模块与漫反射腔的光阑，光电控制板电连接光子计数模块；漫反射腔、参考光源、光电探测器及光电控制板安装于参考室，光阑连通检测室与参考室，参考光源的光线在漫反射腔体内漫反射后通过光阑进入信号光学系统，并投射至光子计数模块。

上述自校准的弱光检测装置，检测时，箱体与读数室连通实现密闭，外界的光无法透入箱体内，避免外界光线的干扰；通过光电控制板可控制参考光源的输出光强，参考光源发出的光线经过在漫反射腔内的漫反射，部分光线被光电探测器检测到，小部分的光线通过光阑投射至光子计数模块，被光子计数模块检测出光信号；特定光强的参考光源的光线通过光阑的光信号是可以定量的，其通过光阑的光信号不受外界因素干扰，光电探测器接收的光信号与透过光阑的被光子计数模块接收的光信号成正比，这样参考光源被光子计数模块接收的光信号可通过光电探测器间接准确测量；设未漂移前，X光强的参考光源的光电探测器接收的光信号与透过光阑的被光子计数模块接收的光信号的比值为S0，当光子计数模块发生温度漂移后，通过光电控制板控制参考光源的输出光强为X光强，测得光电探测器接收的光信号与透过光阑的被光子计数模块接收的光信号的比值为S1，跟未漂移前的S0作比较，得出校准因子F，在实测反应物时，根据校准因子F对光子计数模块进行补偿，即对实测光信号进行校准计算，得出准确的反应容器内的反应物光信号，达到自校准的效果；自校准的输出光是一种漫反射光，而不是直射光，能很好提高校准光源的稳定性，并且结构简单，保证了稳定性及其性能的基础上大大节约了装置的成本。

在其中一个实施例中，漫反射腔内设有挡光装置和通光通道，参考光源的光线透过通光通道进入光阑。

在其中一个实施例中，光阑的直径为1～10mm。

在其中一个实施例中，漫反射腔为方形腔体。